Estudio del efecto de conmutación resistiva en dispositivos tipo capacitor de In/Hf02/Pt

El dióxido de hafnio HfO2 es un material con una alta constante dieléctrica y un band gap cerca de 5.0 eV, a su vez este material ha presentado el efecto de conmutación resistiva, lo cual lo hace un candidato importante para aplicaciones en micro y nano electrónica. Se depositó películas delgadas de...

Full description

Autores:
Quiñones Penagos, Mario Fernando
Tipo de recurso:
Trabajo de grado de pregrado
Fecha de publicación:
2019
Institución:
Universidad del Valle
Repositorio:
Repositorio Digital Univalle
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:bibliotecadigital.univalle.edu.co:10893/15625
Acceso en línea:
https://hdl.handle.net/10893/15625
Palabra clave:
Nanoelectrónica
Hafnio
Electroquímica
Rights
openAccess
License
http://purl.org/coar/access_right/c_abf2