(2020). Caracterización de películas delgadas de dióxido de silicio (SIO2) obtenidas mediante la técnica combustion chemical vapor deposition (CCVD).
Chicago Style (17th ed.) CitationCaracterización De Películas Delgadas De Dióxido De Silicio (SIO2) Obtenidas Mediante La Técnica Combustion Chemical Vapor Deposition (CCVD). 2020.
MLA (8th ed.) CitationCaracterización De Películas Delgadas De Dióxido De Silicio (SIO2) Obtenidas Mediante La Técnica Combustion Chemical Vapor Deposition (CCVD). 2020.
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