Sistema de caracterización y verificación de parámetros reales en dispositivos semiconductores

En el desarrollo de sistemas electrónicos, componentes fundamentales como diodos, transistores y mosfets desempeñan un papel crucial. A menudo, el diseño se basa en las especificaciones de sus hojas de datos, sin embargo, los dispositivos físicos frecuentemente presentan variaciones que no coinciden...

Full description

Autores:

Franco Rincon, Cristian David

Tipo de recurso:

https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f

Fecha de publicación:

2024

Institución:

Universidad El Bosque

Repositorio:

Repositorio U. El Bosque

Idioma:

spa

OAI Identifier:

oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/13541

Acceso en línea:

https://hdl.handle.net/20.500.12495/13541

Palabra clave:

Sistemas electrónicos
Diodos
Transistores
MOSFETs
Hojas de datos
Parámetros eléctricos
Dispositivos semiconductores
Voltaje directo
Voltaje de saturación colector-emisor
Voltaje umbral gate-source en mosfets
Resistencia drain source de activacion
Voltaje zenner
621.381
electronic systems
Diodes
Transistors
MOSFETs
Datasheets
Electrical parameters
Semiconductor devices
Forward voltage
Collector-emitter saturation voltage
Gate-source threshold voltage in MOSFETs
Drain-source on-resistance
Zener voltage

Rights

License

Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional