Diseño de un sistema de prueba para componentes semiconductores

En la actualidad en la industria electrónica, uno de los principales problemas es la variabilidad en la calidad de los componentes semiconductores, como diodos, transistores y MOSFET. Esto se ha vuelto más complicado con la presencia de componentes falsificados o defectuosos, que no cumplen con las especificaciones indicadas por los fabricantes, estos componentes problemáticos pueden generar fallos o un rendimiento deficiente en los circuitos, lo cual es especialmente crítico en aplicaciones donde la precisión es esencial. Para enfrentar este desafío, se diseño un sistema automatizado que permite medir los parámetros clave de estos componentes, como la tensión directa de los diodos o la ganancia de los transistores. Al comparar estos valores con los datos del fabricante, se puede identificar rápidamente si un componente es defectuoso o falso. De esta manera, el sistema no solo mejora la calidad y fiabilidad de los circuitos, sino que también ayuda a garantizar que los componentes utilizados sean realmente los adecuados para cada aplicación.

• Autores: Vasquez Mora, Nicolas Arturo; Pulido Guauta, Diego Alejandro
• Tipo de recurso: https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
• Fecha de publicación: 2025
• Institución: Universidad El Bosque
• Repositorio: Repositorio U. El Bosque
• Idioma: spa
• OAI Identifier: oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/14220
• Acceso en línea: https://hdl.handle.net/20.500.12495/14220
• Palabra clave: Semiconductores; Medición; Verificación; Datasheets; 621.381; Semiconductors; Measurement; Verification; Datasheets
• License: Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International