Diseño de un sistema de prueba para componentes semiconductores

En la actualidad en la industria electrónica, uno de los principales problemas es la variabilidad en la calidad de los componentes semiconductores, como diodos, transistores y MOSFET. Esto se ha vuelto más complicado con la presencia de componentes falsificados o defectuosos, que no cumplen con las...

Full description

Autores:

Vasquez Mora, Nicolas Arturo
Pulido Guauta, Diego Alejandro

Tipo de recurso:

https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f

Fecha de publicación:

2025

Institución:

Universidad El Bosque

Repositorio:

Repositorio U. El Bosque

Idioma:

spa

OAI Identifier:

oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/14220

Acceso en línea:

https://hdl.handle.net/20.500.12495/14220

Palabra clave:

Semiconductores
Medición
Verificación
Datasheets
621.381
Semiconductors
Measurement
Verification
Datasheets

Rights

License

Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International