Sistema de medición de parámetros en dispositivos semiconductores

Este proyecto se enfocó en el diseño y simulación de un sistema de medición para evaluar parámetros fundamentales de componentes semiconductores, con el fin de reducir las discrepancias entre los valores especificados en los datasheets y los obtenidos en la práctica. Estas discrepancias representan...

Full description

Autores:
Claro Julio, Angie Paola
Tipo de recurso:
https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
Fecha de publicación:
2024
Institución:
Universidad El Bosque
Repositorio:
Repositorio U. El Bosque
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/13544
Acceso en línea:
https://hdl.handle.net/20.500.12495/13544
Palabra clave:
Dispositivo semiconductor
Medición de parámetros
Transistores
Diodos
Voltaje de umbral
621.381
Semiconductor device
Parameter measurement
Transistors
Diodes
Threshold voltage
Rights
License
Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional