Sistema de medición de parámetros en dispositivos semiconductores
Este proyecto se enfocó en el diseño y simulación de un sistema de medición para evaluar parámetros fundamentales de componentes semiconductores, con el fin de reducir las discrepancias entre los valores especificados en los datasheets y los obtenidos en la práctica. Estas discrepancias representan...
- Autores:
-
Claro Julio, Angie Paola
- Tipo de recurso:
- https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
- Fecha de publicación:
- 2024
- Institución:
- Universidad El Bosque
- Repositorio:
- Repositorio U. El Bosque
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/13544
- Acceso en línea:
- https://hdl.handle.net/20.500.12495/13544
- Palabra clave:
- Dispositivo semiconductor
Medición de parámetros
Transistores
Diodos
Voltaje de umbral
621.381
Semiconductor device
Parameter measurement
Transistors
Diodes
Threshold voltage
- Rights
- License
- Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional