Sistema electrónico para la medición de parámetros en diodos y transistores
El proyecto aborda la discrepancia entre los valores teóricos especificados por los fabricantes en las hojas de datos de componentes electrónicos y los valores reales obtenidos, así como la incidencia de falsificaciones y defectos de fabricación que afectan el desempeño de los circuitos electrónicos...
- Autores:
-
Rojas Montoya, Jeison Stiven
Pinilla Hernandez, Andres Felipe
- Tipo de recurso:
- https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
- Fecha de publicación:
- 2025
- Institución:
- Universidad El Bosque
- Repositorio:
- Repositorio U. El Bosque
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/14218
- Acceso en línea:
- https://hdl.handle.net/20.500.12495/14218
- Palabra clave:
- Semiconductores
Diodos
Transistores
Caracterización
Medición
621.381
Semiconductors
Diodes
Transistors
Characterization
Measurement
- Rights
- License
- Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International