Evaluación de parámetros eléctricos en semiconductores mediante un sistema autónomo de medición

La incertidumbre sobre el estado funcional de diodos y transistores, así como la discrepancia entre los valores reportados por los fabricantes y el desempeño real de estos dispositivos, evidencia la necesidad de herramientas capaces de determinar con precisión sus parámetros reales. En respuesta a e...

Full description

Autores:
Avila Agudelo, Juan Pablo
Pedraza Aranguren, Laura Alejandra
Tipo de recurso:
https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
Fecha de publicación:
2025
Institución:
Universidad El Bosque
Repositorio:
Repositorio U. El Bosque
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/14215
Acceso en línea:
https://hdl.handle.net/20.500.12495/14215
Palabra clave:
Semiconductores
Coeficiente Beta
Voltaje de conducción directa
Diodos
Transistores
Voltaje de ruptura
621.381
Semiconductors
Beta coefficient
Forward voltage
Diodes
Transistors
Breakdown voltage
Rights
License
Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International