Evaluación de parámetros eléctricos en semiconductores mediante un sistema autónomo de medición
La incertidumbre sobre el estado funcional de diodos y transistores, así como la discrepancia entre los valores reportados por los fabricantes y el desempeño real de estos dispositivos, evidencia la necesidad de herramientas capaces de determinar con precisión sus parámetros reales. En respuesta a e...
- Autores:
-
Avila Agudelo, Juan Pablo
Pedraza Aranguren, Laura Alejandra
- Tipo de recurso:
- https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
- Fecha de publicación:
- 2025
- Institución:
- Universidad El Bosque
- Repositorio:
- Repositorio U. El Bosque
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/14215
- Acceso en línea:
- https://hdl.handle.net/20.500.12495/14215
- Palabra clave:
- Semiconductores
Coeficiente Beta
Voltaje de conducción directa
Diodos
Transistores
Voltaje de ruptura
621.381
Semiconductors
Beta coefficient
Forward voltage
Diodes
Transistors
Breakdown voltage
- Rights
- License
- Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International