Sistema de análisis experimental y verificación de parámetros en semiconductores: enfoque en diodos, transistores BJT y transistores MOSFET
El documento presenta el diseño de un sistema de verificación orientado a evaluar distintos parámetros específicos de componentes electrónicos, entre ellos transistores BJT en configuraciones NPN y PNP, además de diversos tipos de diodos, como Zener, rectificadores, LEDs y Schottky, así como transis...
- Autores:
-
Jaime Villa, Nicolás
Mora Cely, Diego Armando
- Tipo de recurso:
- https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
- Fecha de publicación:
- 2025
- Institución:
- Universidad El Bosque
- Repositorio:
- Repositorio U. El Bosque
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/14217
- Acceso en línea:
- https://hdl.handle.net/20.500.12495/14217
- Palabra clave:
- Medición
Análisis
Componentes electronicos
Parámetros
Semiconductores
621.381
Measurement
Analysis
Electronic components
Parameters
Semiconductors
- Rights
- License
- Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International
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El documento presenta el diseño de un sistema de verificación orientado a evaluar distintos parámetros específicos de componentes electrónicos, entre ellos transistores BJT en configuraciones NPN y PNP, además de diversos tipos de diodos, como Zener, rectificadores, LEDs y Schottky, así como transistores MOSFET de canal P y canal N. El propósito del sistema fue proporcionar a los usuarios de estos componentes una herramienta capaz de obtener mediciones precisas de los parámetros esenciales de cada uno de ellos. El sistema se diseñó con el enfoque de colocar un dispositivo de prueba, medirlo y generar la gráfica precisa muy parecida a la que se genera cuando se observa las hojas de datos de cada uno de estos componentes. Esta característica busca proveer una representación visual al usuario, facilitando así la comparación entre sus mediciones reales y las especificaciones de fábrica. Con ello, el sistema pretendió proveer una forma sencilla y completa para que cualquier persona pueda entender que características tiene su componente específico. |
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[1] D. M. Morales, «Modelado y caracterización de transistores MOSFET,» Universidad de Valladolid, Valladolid, 2020. [2] S. D. S. K. C. J. C. L. Suarez Marcelo, «Caracterización de diodos comerciales y experimentales,» Journal of Material Education, vol. 006, nº 24, pp. 267-278, 2002. [3] D. Albarracín, J. E. Plazas y J. Maca, «Trazador de curvas para transistores BJT de baja potencia,» de La praxis en la ingeniería y su aporte al desarrollo regional, Yopal, Unisangil, 2024, pp. 92-94. [4] S. N. &. A. P. R. (. f. Agnes, «Efectos físicos en el transistor bipolar: modelación y extracción de parámetros.,» [En línea]. Available: http://scielo.sld.cu/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1815-59282015000100003. [5] IEEE Journals & Magazine | IEEE Xplore, «The Book [Analysis and Design of Analog Integrated Circuits],» 01 01 2024. [En línea]. Available: https://ieeexplore.ieee.org/document/6727553. [6] Electrónica Unicrom. , «Convertidor digital - analógico (CDA - DAC) - electrónica Unicrom.,» 04 01 2024. [En línea]. Available: https://unicrom.com/convertidor-digital-analogico-cda-dac/. [7] D. Jones y M. Stitt, «Precision Absolute Value Circuits,» Burr Brown, Tucson, 2000. [8] Texas Instruments TI, «AN-31 Op Amp Circuit Collection (Application Report SBOA068).,» 1999. [En línea]. Available: https://www.ti.com/lit/an/sboa068/sboa068.pdf. [9] M. Montero, «Cómo diseñar una fuente de corriente bidireccional simple, controlada por voltaje,» TecNoticias, [En línea]. Available: https://tecnoticias.net/2019/04/como-disenar-una-fuente-de-corriente-bidireccional-simple-controlada-por-voltaje/amp/. |
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El sistema se diseñó con el enfoque de colocar un dispositivo de prueba, medirlo y generar la gráfica precisa muy parecida a la que se genera cuando se observa las hojas de datos de cada uno de estos componentes. Esta característica busca proveer una representación visual al usuario, facilitando así la comparación entre sus mediciones reales y las especificaciones de fábrica. Con ello, el sistema pretendió proveer una forma sencilla y completa para que cualquier persona pueda entender que características tiene su componente específico.Ingeniero ElectrónicoPregradoThis document presents the design of a verification system focused at evaluating various specific parameters of electronic components, including BJT transistors in NPN and PNP configurations, as well as distinct types of diodes, such as Zener, rectifiers, LEDs, and Schottky, in addition to MOSFET transistors with P-channel and N-channel. The objective was to provide users of these components with a tool capable of obtaining accurate measurements of each component's most important parameters. The system was designed with an approach that allowed placing a test device, measuring it, and generating an accurate graph like those found in the datasheets for each of these components. This feature aimed at providing users with a visual representation, thus facilitating the comparison between their real measurements and the factory specifications. In doing so, the system offered a simple and comprehensive way for anyone to understand the characteristics of their specific component.application/pdfAttribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 Internationalhttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/Acceso abiertohttps://purl.org/coar/access_right/c_abf2http://purl.org/coar/access_right/c_abf2MediciónAnálisisComponentes electronicosParámetrosSemiconductores621.381MeasurementAnalysisElectronic componentsParametersSemiconductorsSistema de análisis experimental y verificación de parámetros en semiconductores: enfoque en diodos, transistores BJT y transistores MOSFETExperimental analysis and parameter verification system in semiconductors: focus on diodes, BJT transistors and MOSFET transistorsIngeniería ElectrónicaUniversidad El BosqueFacultad de IngenieríaTesis/Trabajo de grado - Monografía - Pregradohttps://purl.org/coar/resource_type/c_7a1fhttp://purl.org/coar/resource_type/c_7a1finfo:eu-repo/semantics/bachelorThesishttps://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa[1] D. M. Morales, «Modelado y caracterización de transistores MOSFET,» Universidad de Valladolid, Valladolid, 2020.[2] S. D. S. K. C. J. C. L. Suarez Marcelo, «Caracterización de diodos comerciales y experimentales,» Journal of Material Education, vol. 006, nº 24, pp. 267-278, 2002.[3] D. Albarracín, J. E. Plazas y J. Maca, «Trazador de curvas para transistores BJT de baja potencia,» de La praxis en la ingeniería y su aporte al desarrollo regional, Yopal, Unisangil, 2024, pp. 92-94.[4] S. N. &. A. P. R. (. f. Agnes, «Efectos físicos en el transistor bipolar: modelación y extracción de parámetros.,» [En línea]. Available: http://scielo.sld.cu/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1815-59282015000100003.[5] IEEE Journals & Magazine | IEEE Xplore, «The Book [Analysis and Design of Analog Integrated Circuits],» 01 01 2024. [En línea]. Available: https://ieeexplore.ieee.org/document/6727553.[6] Electrónica Unicrom. , «Convertidor digital - analógico (CDA - DAC) - electrónica Unicrom.,» 04 01 2024. 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Available: https://tecnoticias.net/2019/04/como-disenar-una-fuente-de-corriente-bidireccional-simple-controlada-por-voltaje/amp/.spaLICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-82000https://repositorio.unbosque.edu.co/bitstreams/abeb53c1-1f1f-4e1c-9c13-7fb99f945d31/download17cc15b951e7cc6b3728a574117320f9MD52Carta de autorizacion.pdfapplication/pdf240824https://repositorio.unbosque.edu.co/bitstreams/71aaf2bc-6462-4c93-a997-899c9ce1ad27/download2639f8e8d58975ea065a99b2c267c673MD510Anexo 1 acta de aprobacion.pdfapplication/pdf213280https://repositorio.unbosque.edu.co/bitstreams/514ef14a-ff49-451a-8e26-479efaf80321/download5b2c217ac2ff5c779e5b8d5d44554141MD511ORIGINALTrabajo de grado.pdfTrabajo de grado.pdfapplication/pdf1888936https://repositorio.unbosque.edu.co/bitstreams/438b81ee-7474-41ec-91b1-7cf4d76850df/download98fbab2679a9e46eaddacef4e52a4763MD58CC-LICENSElicense_rdflicense_rdfapplication/rdf+xml; charset=utf-81160https://repositorio.unbosque.edu.co/bitstreams/c4719805-3f81-448a-ab70-75f389cda2c6/download5643bfd9bcf29d560eeec56d584edaa9MD59TEXTTrabajo de grado.pdf.txtTrabajo de grado.pdf.txtExtracted texttext/plain103206https://repositorio.unbosque.edu.co/bitstreams/31170d8e-9766-4a07-ba29-bc1099965c7b/downloadc6b85cf5b05572f0d77180bdba82a8d8MD512THUMBNAILTrabajo de grado.pdf.jpgTrabajo de grado.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg2872https://repositorio.unbosque.edu.co/bitstreams/770ed358-1a5c-4b82-84bd-8d1f5aa6b368/download7c89020961639a7c52a1a6069244d09dMD51320.500.12495/14217oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/142172025-04-01 05:07:49.008http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 Internationalopen.accesshttps://repositorio.unbosque.edu.coRepositorio Institucional Universidad El Bosquebibliotecas@biteca.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 |