Sistema de análisis experimental y verificación de parámetros en semiconductores: enfoque en diodos, transistores BJT y transistores MOSFET

El documento presenta el diseño de un sistema de verificación orientado a evaluar distintos parámetros específicos de componentes electrónicos, entre ellos transistores BJT en configuraciones NPN y PNP, además de diversos tipos de diodos, como Zener, rectificadores, LEDs y Schottky, así como transis...

Full description

Autores:

Jaime Villa, Nicolás
Mora Cely, Diego Armando

Tipo de recurso:

https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f

Fecha de publicación:

2025

Institución:

Universidad El Bosque

Repositorio:

Repositorio U. El Bosque

Idioma:

spa

OAI Identifier:

oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/14217

Acceso en línea:

https://hdl.handle.net/20.500.12495/14217

Palabra clave:

Medición
Análisis
Componentes electronicos
Parámetros
Semiconductores
621.381
Measurement
Analysis
Electronic components
Parameters
Semiconductors

Rights

License

Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International