Modelamiento de los esfuerzos residuales en películas delgadas de multicapas

Películas delgadas de cromo (Cr), nitruro de cromo (CrN) y multicapas de Cr/CrN se crecieron, utilizando la técnica de magnetrón sputtering, sobre sustrato de silicio. Las condiciones de crecimiento se mantuvieron constantes, no se aplico calentamiento ni voltaje bias al sustrato. Las películas delg...

Full description

Autores:
Arias Mateus, Diego Fernando
Tipo de recurso:
Doctoral thesis
Fecha de publicación:
2011
Institución:
Universidad Nacional de Colombia
Repositorio:
Universidad Nacional de Colombia
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.unal.edu.co:unal/9023
Acceso en línea:
https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/9023
http://bdigital.unal.edu.co/5772/
Palabra clave:
62 Ingeniería y operaciones afines / Engineering
Esfuerzo Residual
Modelamiento
Películas delgadas
Multicapas, Cr,CrN
Residual stress, Modeling, Thin films, Multilayer
Rights
openAccess
License
Atribución-NoComercial 4.0 Internacional