Aln film deposition as a semiconductor device

AlN films were deposited by pulsed laser deposition (PLD) using an Nd: YAG laser (λ = 1064 nm). The films were deposited in a nitrogen atmosphere as working gas; the cathode was an aluminium high purity (99.99%) target. The films were deposited using 7 J/cm2 laser fluence for 10 minutes on silicon (...

Full description

Autores:
Caicedo, Julio Cesar
Pérez Taborda, Jaime Andrés
Chaparro, Willian Aperador
Tipo de recurso:
Article of journal
Fecha de publicación:
2013
Institución:
Universidad Nacional de Colombia
Repositorio:
Universidad Nacional de Colombia
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.unal.edu.co:unal/73160
Acceso en línea:
https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/73160
http://bdigital.unal.edu.co/37635/
Palabra clave:
Pulsed laser deposition
aluminium nitride
acoustic wave speed
nitruro de aluminio
deposición de láser pulsado
reflectancia óptica
pureza del color
respuesta de frecuencia
velocidad de la onda acústica
Rights
openAccess
License
Atribución-NoComercial 4.0 Internacional