Propiedades ópticas de películas delgadas de a-si:h producidas por evaporacion

Mediciones de transmitancia y reflectancia para películas delgadas de a-Si:H depositadas por evaporación rápida bajo varias condiciones de temperaturas de sustrato Ts y presiones parciales de hidrógeno Ph se llevaron a cabo.EI corrimiento del borde de absorción tanto con Ts y Ph se estudió y correla...