Preparación y caracterización del semiconductor ZnO con impurezas magnéticas

En este trabajo se fabricaron muestras policristalinas de Óxido de Zinc (ZnO) dopadas con Cobalto (Co), ZnO_(1-x)Co_(x) con 0.01= x = 0.3. Las muestras se prepararon usando el método de reacción de estado sólido a temperatura de 900°C durante 12 h y enfriamiento libre. El análisis estructural, se re...

Full description

Autores:
Bautista Sapuyes, Nelly Yanira
Tipo de recurso:
Fecha de publicación:
2019
Institución:
Universidad Nacional de Colombia
Repositorio:
Universidad Nacional de Colombia
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.unal.edu.co:unal/76534
Acceso en línea:
https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/76534
http://bdigital.unal.edu.co/73023/
Palabra clave:
Efecto Hall
Impurezas magnéticas
Semiconductor
Magnetización
Hall effect
Magnetic impurities
Semiconductor
Magnetization
Rights
openAccess
License
Atribución-NoComercial 4.0 Internacional
Description
Summary:En este trabajo se fabricaron muestras policristalinas de Óxido de Zinc (ZnO) dopadas con Cobalto (Co), ZnO_(1-x)Co_(x) con 0.01= x = 0.3. Las muestras se prepararon usando el método de reacción de estado sólido a temperatura de 900°C durante 12 h y enfriamiento libre. El análisis estructural, se realizó mediante difracción de rayos X (XRD), para identificar las fases presentes, los parámetros de red asociados a la estructura cristalina de las muestras y el tamaño del cristal, así como las micro-tensiones presentes. La morfología, fue observada por microscopia electrónica de barrido (SEM), la cual mostró un aumento del tamaño de grano con la concentración de Co. Las propiedades eléctricas se determinaron a partir de mediciones del efecto Hall, presentando un comportamiento semiconductor tipo n para todas las muestras. Finalmente se realizaron medidas de magnetización, las cuales evidenciaron el comportamiento ferromagnético cerca a la temperatura ambiente de todas las muestras analizadas. Se observó que las diferencias en el comportamiento magnético de las muestras son debidas a los cambios en las propiedades eléctricas, especialmente relacionadas con la densidad de portadores de cargas.