Microestructura, esfuerzos residuales y dureza en películas delgadas de nitruro de titanio-circonio
Películas delgadas de nitruro de titanio-circonio (TiZrN) fueron sintetizadas a diferentes valores de temperaturas del sustrato por medio de la técnica de deposición de arco catódico pulsado. Inicialmente, se realizó un análisis de espectroscopía de energía dispersiva de rayos (EDS) con el fin de co...
- Autores:
-
Escobar Rincón , Daniel
- Tipo de recurso:
- Fecha de publicación:
- 2012
- Institución:
- Universidad Nacional de Colombia
- Repositorio:
- Universidad Nacional de Colombia
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unal.edu.co:unal/11639
- Acceso en línea:
- https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/11639
http://bdigital.unal.edu.co/9108/
- Palabra clave:
- 53 Física / Physics
62 Ingeniería y operaciones afines / Engineering
Caracterización de materiales
Películas delgadas
Nitruro de Titanio-Circonio
Microestructura
Esfuerzo residual // Materials characterization
Thin films
Titanium-Zirconium Nitride
Microstructure
Residual stress
- Rights
- openAccess
- License
- Atribución-NoComercial 4.0 Internacional