Microestructura, esfuerzos residuales y dureza en películas delgadas de nitruro de titanio-circonio

Películas delgadas de nitruro de titanio-circonio (TiZrN) fueron sintetizadas a diferentes valores de temperaturas del sustrato por medio de la técnica de deposición de arco catódico pulsado. Inicialmente, se realizó un análisis de espectroscopía de energía dispersiva de rayos (EDS) con el fin de co...

Full description

Autores:
Escobar Rincón , Daniel
Tipo de recurso:
Fecha de publicación:
2012
Institución:
Universidad Nacional de Colombia
Repositorio:
Universidad Nacional de Colombia
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.unal.edu.co:unal/11639
Acceso en línea:
https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/11639
http://bdigital.unal.edu.co/9108/
Palabra clave:
53 Física / Physics
62 Ingeniería y operaciones afines / Engineering
Caracterización de materiales
Películas delgadas
Nitruro de Titanio-Circonio
Microestructura
Esfuerzo residual // Materials characterization
Thin films
Titanium-Zirconium Nitride
Microstructure
Residual stress
Rights
openAccess
License
Atribución-NoComercial 4.0 Internacional