Propiedades mecánicas e influencia de la temperatura de deposición sobre la morfología en monocristales de Cu3BiS3 usados como capa absorbente enceldas solares
En este trabajo presentamos los resultados obtenidos de la caracterización estructural, morfológica y mecánica de películas delgadas de Cu3BiS3, a través de las técnicas de microscopía de fuerza atómica (AFM), microscopia de barrido electrónico (SEM), perfilometría y difracción de rayos X en haz raz...
- Autores:
-
Aparicio Guzmán, Arturo Edison
- Tipo de recurso:
- Fecha de publicación:
- 2011
- Institución:
- Universidad Nacional de Colombia
- Repositorio:
- Universidad Nacional de Colombia
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unal.edu.co:unal/8566
- Palabra clave:
- 53 Física / Physics
Estructura y morfología de películas delgadas
Microscopia de Fuerza Atómica (AFM)
Microscopía de Barrido Electrónico (SEM)
Difracción de Rayos X
Perfilometría
Metrología de superficies
Medición de Stress / Thin film structure and morphology
Atomic force microscopy (AFM)
Scanning electron microscopy (SEM)
X-ray diffraction
Profilometry
Surface Metrology
Stress Measurement
- Rights
- openAccess
- License
- Atribución-NoComercial 4.0 Internacional