Non-destructive in situ analysis of garnet by combining scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques

Mediante el uso de la difracción de rayos-X de polvo (DRXP), microdifracción de rayos-X (mDXR) y microscopía electrónica de barrido, la caracterización estructural de minerales resulta ser mucho más fiable y precisa. La identificación y cuantificación elemental y composicional de los minerales media...

Full description

Autores:
Bonilla-Jaimes, John Deiver
Henao-Martínez, Jose Antonio
Mendoza-Luna, Carolina
Castellanos-Alarcón, Oscar Mauricio
Ríos-Reyes, Carlos Alberto
Tipo de recurso:
Article of journal
Fecha de publicación:
2016
Institución:
Universidad Nacional de Colombia
Repositorio:
Universidad Nacional de Colombia
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.unal.edu.co:unal/60586
Acceso en línea:
https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/60586
http://bdigital.unal.edu.co/58918/
Palabra clave:
62 Ingeniería y operaciones afines / Engineering
scanning electron microscopy
micro X-ray diffraction
analytical techniques
mineral
garnet.
Rights
openAccess
License
Atribución-NoComercial 4.0 Internacional