Caracterización de peliculas de fosfuro de galio nitrogenado
Las películas de GaP1-xNx fueron depositaron por magnetrón sputtering sobre substratos silicio (100) variando la temperaturas del substrato desde 420 oC hasta 520 oC. Difracción de rayos-X muestran que las películas son policristalinas con orientación preferencial en la dirección (111). Micrografías...
- Autores:
-
Pulzara Mora, Alvaro
Melendez Lira, Miguel
López López, Máximo
- Tipo de recurso:
- Article of journal
- Fecha de publicación:
- 2012
- Institución:
- Universidad Nacional de Colombia
- Repositorio:
- Universidad Nacional de Colombia
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unal.edu.co:unal/73580
- Acceso en línea:
- https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/73580
http://bdigital.unal.edu.co/38056/
- Palabra clave:
- Pulverización catódica
GaPN
Raman
SEM.
Magnetron Sputtering
GaPN
Raman
SEM.
- Rights
- openAccess
- License
- Atribución-NoComercial 4.0 Internacional
| id |
UNACIONAL2_7ee45fa32927b757cf647c942db99fc3 |
|---|---|
| oai_identifier_str |
oai:repositorio.unal.edu.co:unal/73580 |
| network_acronym_str |
UNACIONAL2 |
| network_name_str |
Universidad Nacional de Colombia |
| repository_id_str |
|
| spelling |
Atribución-NoComercial 4.0 InternacionalDerechos reservados - Universidad Nacional de Colombiahttp://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/info:eu-repo/semantics/openAccesshttp://purl.org/coar/access_right/c_abf2Pulzara Mora, Alvaroe2ea6983-80cc-472c-9efd-4522a94bc0a1300Melendez Lira, Miguel10c1117e-dad7-4a49-b9a3-8d4c9c1b8402300López López, Máximo50122304-7c04-4580-a5d6-c400f0b5c61a3002019-07-03T16:32:52Z2019-07-03T16:32:52Z2012https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/73580http://bdigital.unal.edu.co/38056/Las películas de GaP1-xNx fueron depositaron por magnetrón sputtering sobre substratos silicio (100) variando la temperaturas del substrato desde 420 oC hasta 520 oC. Difracción de rayos-X muestran que las películas son policristalinas con orientación preferencial en la dirección (111). Micrografías de alta resolución tomadas en sección transversal con un microscopio electrónico de barrido, muestran un crecimiento columnar. Espectros Raman evidencian la existencia de modos vibracionales TO y LO localizados en 370 y 408 cm-1 asociados a GaP, y un modo fonónico local alrededor de 390 cms-1 relacionado con el desorden estructural inducido por nitrógeno, debido probablemente a la incorporación de átomos y/o clusters de N en la matriz de GaP.GaPN thin films were deposited on Silicon (100) substrates, in the range of 420-520 oC by r-f magnetron sputtering employing a nitrogen–argon atmosphere. According to X-ray measurements the GaPN films are polycrystalline with preferential orientation along of (111) direction. High resolution scanning electron microscopy (HRSEM) images taken in cross sectional show a columnar growth. Raman spectra show TO and LO vibrational phonon modes at 370 and 408 cm-1 associated to GaP, and a local phonon mode around 390 cm-1, likely related with N-induced disorder or N-cluster formation in GaP host.application/pdfspaUniversidad Nacional de Colombia, Bogotáhttp://revistas.unal.edu.co/index.php/momento/article/view/40386Universidad Nacional de Colombia Revistas electrónicas UN MOMENTO - Revista de FísicaMOMENTO - Revista de FísicaMOMENTO - Revista de Física; núm. 45 (2012); 34-43 0121-4470Pulzara Mora, Alvaro and Melendez Lira, Miguel and López López, Máximo (2012) Caracterización de peliculas de fosfuro de galio nitrogenado. MOMENTO - Revista de Física; núm. 45 (2012); 34-43 0121-4470 .Caracterización de peliculas de fosfuro de galio nitrogenadoArtículo de revistainfo:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_6501http://purl.org/coar/resource_type/c_2df8fbb1http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85Texthttp://purl.org/redcol/resource_type/ARTPulverización catódicaGaPNRamanSEM.Magnetron SputteringGaPNRamanSEM.ORIGINAL40386-181248-1-PB.pdfapplication/pdf7790744https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/73580/1/40386-181248-1-PB.pdf219fdfeaaf76f8e6537c48a1a4ae9969MD51THUMBNAIL40386-181248-1-PB.pdf.jpg40386-181248-1-PB.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg6467https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/73580/2/40386-181248-1-PB.pdf.jpg99cca11d02ad893392a02ad8fb942dafMD52unal/73580oai:repositorio.unal.edu.co:unal/735802023-06-29 23:04:02.99Repositorio Institucional Universidad Nacional de Colombiarepositorio_nal@unal.edu.co |
| dc.title.spa.fl_str_mv |
Caracterización de peliculas de fosfuro de galio nitrogenado |
| title |
Caracterización de peliculas de fosfuro de galio nitrogenado |
| spellingShingle |
Caracterización de peliculas de fosfuro de galio nitrogenado Pulverización catódica GaPN Raman SEM. Magnetron Sputtering GaPN Raman SEM. |
| title_short |
Caracterización de peliculas de fosfuro de galio nitrogenado |
| title_full |
Caracterización de peliculas de fosfuro de galio nitrogenado |
| title_fullStr |
Caracterización de peliculas de fosfuro de galio nitrogenado |
| title_full_unstemmed |
Caracterización de peliculas de fosfuro de galio nitrogenado |
| title_sort |
Caracterización de peliculas de fosfuro de galio nitrogenado |
| dc.creator.fl_str_mv |
Pulzara Mora, Alvaro Melendez Lira, Miguel López López, Máximo |
| dc.contributor.author.spa.fl_str_mv |
Pulzara Mora, Alvaro Melendez Lira, Miguel López López, Máximo |
| dc.subject.proposal.spa.fl_str_mv |
Pulverización catódica GaPN Raman SEM. Magnetron Sputtering GaPN Raman SEM. |
| topic |
Pulverización catódica GaPN Raman SEM. Magnetron Sputtering GaPN Raman SEM. |
| description |
Las películas de GaP1-xNx fueron depositaron por magnetrón sputtering sobre substratos silicio (100) variando la temperaturas del substrato desde 420 oC hasta 520 oC. Difracción de rayos-X muestran que las películas son policristalinas con orientación preferencial en la dirección (111). Micrografías de alta resolución tomadas en sección transversal con un microscopio electrónico de barrido, muestran un crecimiento columnar. Espectros Raman evidencian la existencia de modos vibracionales TO y LO localizados en 370 y 408 cm-1 asociados a GaP, y un modo fonónico local alrededor de 390 cms-1 relacionado con el desorden estructural inducido por nitrógeno, debido probablemente a la incorporación de átomos y/o clusters de N en la matriz de GaP. |
| publishDate |
2012 |
| dc.date.issued.spa.fl_str_mv |
2012 |
| dc.date.accessioned.spa.fl_str_mv |
2019-07-03T16:32:52Z |
| dc.date.available.spa.fl_str_mv |
2019-07-03T16:32:52Z |
| dc.type.spa.fl_str_mv |
Artículo de revista |
| dc.type.coar.fl_str_mv |
http://purl.org/coar/resource_type/c_2df8fbb1 |
| dc.type.driver.spa.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/article |
| dc.type.version.spa.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
| dc.type.coar.spa.fl_str_mv |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
| dc.type.coarversion.spa.fl_str_mv |
http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |
| dc.type.content.spa.fl_str_mv |
Text |
| dc.type.redcol.spa.fl_str_mv |
http://purl.org/redcol/resource_type/ART |
| format |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
| status_str |
publishedVersion |
| dc.identifier.uri.none.fl_str_mv |
https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/73580 |
| dc.identifier.eprints.spa.fl_str_mv |
http://bdigital.unal.edu.co/38056/ |
| url |
https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/73580 http://bdigital.unal.edu.co/38056/ |
| dc.language.iso.spa.fl_str_mv |
spa |
| language |
spa |
| dc.relation.spa.fl_str_mv |
http://revistas.unal.edu.co/index.php/momento/article/view/40386 |
| dc.relation.ispartof.spa.fl_str_mv |
Universidad Nacional de Colombia Revistas electrónicas UN MOMENTO - Revista de Física MOMENTO - Revista de Física |
| dc.relation.ispartofseries.none.fl_str_mv |
MOMENTO - Revista de Física; núm. 45 (2012); 34-43 0121-4470 |
| dc.relation.references.spa.fl_str_mv |
Pulzara Mora, Alvaro and Melendez Lira, Miguel and López López, Máximo (2012) Caracterización de peliculas de fosfuro de galio nitrogenado. MOMENTO - Revista de Física; núm. 45 (2012); 34-43 0121-4470 . |
| dc.rights.spa.fl_str_mv |
Derechos reservados - Universidad Nacional de Colombia |
| dc.rights.coar.fl_str_mv |
http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 |
| dc.rights.license.spa.fl_str_mv |
Atribución-NoComercial 4.0 Internacional |
| dc.rights.uri.spa.fl_str_mv |
http://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/ |
| dc.rights.accessrights.spa.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
| rights_invalid_str_mv |
Atribución-NoComercial 4.0 Internacional Derechos reservados - Universidad Nacional de Colombia http://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/ http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 |
| eu_rights_str_mv |
openAccess |
| dc.format.mimetype.spa.fl_str_mv |
application/pdf |
| dc.publisher.spa.fl_str_mv |
Universidad Nacional de Colombia, Bogotá |
| institution |
Universidad Nacional de Colombia |
| bitstream.url.fl_str_mv |
https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/73580/1/40386-181248-1-PB.pdf https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/73580/2/40386-181248-1-PB.pdf.jpg |
| bitstream.checksum.fl_str_mv |
219fdfeaaf76f8e6537c48a1a4ae9969 99cca11d02ad893392a02ad8fb942daf |
| bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv |
MD5 MD5 |
| repository.name.fl_str_mv |
Repositorio Institucional Universidad Nacional de Colombia |
| repository.mail.fl_str_mv |
repositorio_nal@unal.edu.co |
| _version_ |
1814089419364237312 |