Análisis del método de tsc para la obtención de la dos en materiales semiconductores.

En este trabajo, se presenta un estudio detallado del método de la conductividad térmicamente estimulada (TSC) para la obtención de la densidad de estados (DOS) a partir de mediciones experimentales. Se obtiene la DOS en muestras de silicio microcristalino dopadas con Boro [μc-Si:H (B)] y se compara...

Full description

Autores:

Dussan, A.

Tipo de recurso:

Article of journal

Fecha de publicación:

2006

Institución:

Universidad Nacional de Colombia

Repositorio:

Universidad Nacional de Colombia

Idioma:

spa

OAI Identifier:

oai:repositorio.unal.edu.co:unal/73685

Acceso en línea:

https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/73685
http://bdigital.unal.edu.co/38161/

Palabra clave:

Semiconductores
películas delgadas
DOS.
Semiconductors
Thin Films
DOS.

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openAccess

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Atribución-NoComercial 4.0 Internacional