Propiedades morfológicas y estructurales de películas delgadas de Cu3BiS3 a través de la microscopía de fuerza atómica

En este trabajo presentamos los resultados obtenidos de la caracterización morfológica y estructural de películas delgadas de Cu3BiS3, a través de las técnicas de microscopía de fuerza atómica (AFM), microscopia de barrido electrónico (SEM) y difracción de rayos X en haz razante (XRD). Las muestras...

Full description

Autores:

Cruz Fernández, Mauro Ignacio

Tipo de recurso:

Fecha de publicación:

2009

Institución:

Universidad Nacional de Colombia

Repositorio:

Universidad Nacional de Colombia

Idioma:

OAI Identifier:

oai:repositorio.unal.edu.co:unal/6782

Acceso en línea:

https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/6782
http://bdigital.unal.edu.co/2989/

Palabra clave:

53 Física / Physics
XRD
Películas delgadas
Propiedades morfológicas
Thin films
Morphological properties

Rights

License

http://purl.org/coar/access_right/c_abf2