Estudio mediante difracción de rayos X de las tensiones residuales producidas durante el depósito de películas delgadas de TiN sobre sustratos metálicos

RESUMEN: En este trabajo se analizó la influencia que tiene el espesor de la película y el tipo de sustrato en el nivel y tipo de esfuerzos residuales generados en recubrimientos de TiN obtenidos por dos técnicas de deposición física en fase vapor: pulverización catódica con magnetrón e implantación...

Full description

Autores:
López Gómez, María Esperanza
Meza, Juan
Vargas Galvis, Fabio
Tipo de recurso:
Article of investigation
Fecha de publicación:
2010
Institución:
Universidad de Antioquia
Repositorio:
Repositorio UdeA
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:bibliotecadigital.udea.edu.co:10495/5453
Acceso en línea:
http://hdl.handle.net/10495/5453
Palabra clave:
Tensiones residuales
Difracción de rayos X
Nitruro de titanio
Películas delgadas
Rights
openAccess
License
Atribución-NoComercial-CompartirIgual 2.5 Colombia (CC BY-NC-SA 2.5 CO)