Gentle and fast atomic force microscopy with a piezoelectric scanning probe for nanorobotics applications

Se presenta una nueva plataforma de microscopio de fuerza atómica (AFM) de nanomanipulación de doble punta que opera en condiciones ambientales. El sistema está equipado con una sonda de escaneo de detección automática piezoeléctrica de cuarzo de alta frecuencia para obtener imágenes rápidas y un voladizo pasivo para la manipulación. El sistema se valida mediante la obtención de imágenes y el empuje / tracción selectivo de perlas coloidales de oro (diámetros de 80 a 180 nm). Esto proporciona una integración más compacta en comparación con una palanca óptica externa y evita varios de sus inconvenientes, como la interferencia óptica y el ruido, y la recalibración en el caso de un voladizo móvil y una fuente láser fija y un sensor de fotodiodo. Además, como el oscilador de cuarzo exhibe amplitudes de oscilación en el rango de sub-picómetro con una frecuencia de resonancia en el rango de megahercios, este sensor de fuerza dinámica es ideal para imágenes AFM rápidas.

• Autores: Acosta Mejía, Juan Camilo; Polesel, Jerome; François, Thoyer; Xie, Hui; Haliyo, Sinan; Régnier, Stéphane
• Tipo de recurso: Article of journal
• Fecha de publicación: 2013
• Institución: Universidad Autónoma de Occidente
• Repositorio: RED: Repositorio Educativo Digital UAO
• Idioma: eng
• OAI Identifier: oai:red.uao.edu.co:10614/11949
• Acceso en línea: http://red.uao.edu.co//handle/10614/11949
• Palabra clave: Nanotecnología; Microscopia de exploración con sonda; Atomic force microscopy; Nanotechnology
• Rights: openAccess
• License: Derechos Reservados - Universidad Autónoma de Occidente