Gentle and fast atomic force microscopy with a piezoelectric scanning probe for nanorobotics applications

Se presenta una nueva plataforma de microscopio de fuerza atómica (AFM) de nanomanipulación de doble punta que opera en condiciones ambientales. El sistema está equipado con una sonda de escaneo de detección automática piezoeléctrica de cuarzo de alta frecuencia para obtener imágenes rápidas y un vo...