La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanociencias

La última generación en tecnología microscópica, ha puesto en escenario un conjunto de técnicas genéricamente denominadas Microscopía de Barrido por Sonda (Scanning Probe Microscopy – SPM). Tales herramientas dan la posibilidad de realizar análisis detallado de propiedades morfológicas, mecánicas, q...

Full description

Autores:
Arroyave Franco, Mauricio
Tipo de recurso:
Fecha de publicación:
2008
Institución:
Universidad EAFIT
Repositorio:
Repositorio EAFIT
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repository.eafit.edu.co:10784/16743
Acceso en línea:
http://hdl.handle.net/10784/16743
Palabra clave:
microscopía
materiales
nanociencias
fuerza atómica
barrido túnel
fuerza magnética
Rights
License
Copyright © 2008 Mauricio Arroyave Franco
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