La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanociencias

La última generación en tecnología microscópica, ha puesto en escenario un conjunto de técnicas genéricamente denominadas Microscopía de Barrido por Sonda (Scanning Probe Microscopy – SPM). Tales herramientas dan la posibilidad de realizar análisis detallado de propiedades morfológicas, mecánicas, q...

Full description

Autores:
Arroyave Franco, Mauricio
Tipo de recurso:
Fecha de publicación:
2008
Institución:
Universidad EAFIT
Repositorio:
Repositorio EAFIT
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repository.eafit.edu.co:10784/16743
Acceso en línea:
http://hdl.handle.net/10784/16743
Palabra clave:
microscopía
materiales
nanociencias
fuerza atómica
barrido túnel
fuerza magnética
Rights
License
Copyright © 2008 Mauricio Arroyave Franco
id REPOEAFIT2_71f190e3eb67db3284ddcb30ad15e1bd
oai_identifier_str oai:repository.eafit.edu.co:10784/16743
network_acronym_str REPOEAFIT2
network_name_str Repositorio EAFIT
repository_id_str
spelling Medellín de: Lat: 06 15 00 N degrees minutes Lat: 6.2500 decimal degrees Long: 075 36 00 W degrees minutes Long: -75.6000 decimal degrees20082020-06-12T16:46:28Z20082020-06-12T16:46:28Z0120-341Xhttp://hdl.handle.net/10784/16743La última generación en tecnología microscópica, ha puesto en escenario un conjunto de técnicas genéricamente denominadas Microscopía de Barrido por Sonda (Scanning Probe Microscopy – SPM). Tales herramientas dan la posibilidad de realizar análisis detallado de propiedades morfológicas, mecánicas, químicas, entre otras, de la superficie estudiada, con resoluciones que en algunos casos son mayores que las logradas en microscopía electrónica. Las nuevas tecnologías basadas en nanociencias, se han apoyado en estos instrumentos para obtener imágenes aumentadas de unos pocos grupos de átomos, cuyo orden obedece a la naturaleza misma o a la manipulación deliberada, a la cual se ha accedido gracias al desarrollo de la nanotecnología. En este trabajo se presenta una descripción básica de los principios de funcionamiento, el panorama general de las aplicaciones de la técnica SPM en el análisis de materiales y algunos resultados obtenidos sobre diferentes tipos de muestras.application/pdfspaUniversidad EAFIThttp://publicaciones.eafit.edu.co/index.php/revista-universidad-eafit/article/view/131/126http://publicaciones.eafit.edu.co/index.php/revista-universidad-eafit/article/view/131/126Copyright © 2008 Mauricio Arroyave FrancoAcceso abiertohttp://purl.org/coar/access_right/c_abf2Revista Universidad EAFIT, Vol. 44, No. 151 (2008)La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanocienciasarticleinfo:eu-repo/semantics/articlepublishedVersioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersionArtículohttp://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85http://purl.org/coar/resource_type/c_6501http://purl.org/coar/resource_type/c_2df8fbb1microscopíamaterialesnanocienciasfuerza atómicabarrido túnelfuerza magnéticaArroyave Franco, MauricioUniversidad EAFITRevista Universidad EAFIT441516783THUMBNAILdminiatura-rev-eafit[986].jpgdminiatura-rev-eafit[986].jpgimage/jpeg118416https://repository.eafit.edu.co/bitstreams/4431346b-965a-491b-bdc6-10a7c832b2f9/download9ac51cb2b5f275d90bbb40324068baabMD51ORIGINALdocument - 2020-08-03T100745.772.pdfdocument - 2020-08-03T100745.772.pdfTexto completo PDFapplication/pdf924964https://repository.eafit.edu.co/bitstreams/765a7b9c-1a5a-45bb-9de0-a69bdcef2aeb/downloadbde80153dccd4fdcc125e2af7d192ce0MD52articulo - copia (5).htmlarticulo - copia (5).htmlTexto completo HTMLtext/html389https://repository.eafit.edu.co/bitstreams/f440dd9a-ec4e-472e-8760-ddf364a44959/download625fdf931b3f5c78ac44927ed1615b17MD5310784/16743oai:repository.eafit.edu.co:10784/167432021-09-03 15:09:42.323open.accesshttps://repository.eafit.edu.coRepositorio Institucional Universidad EAFITrepositorio@eafit.edu.co
dc.title.spa.fl_str_mv La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanociencias
title La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanociencias
spellingShingle La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanociencias
microscopía
materiales
nanociencias
fuerza atómica
barrido túnel
fuerza magnética
title_short La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanociencias
title_full La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanociencias
title_fullStr La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanociencias
title_full_unstemmed La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanociencias
title_sort La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanociencias
dc.creator.fl_str_mv Arroyave Franco, Mauricio
dc.contributor.author.sp.fl_str_mv Arroyave Franco, Mauricio
dc.contributor.affiliation.spa.fl_str_mv Universidad EAFIT
dc.subject.keyword.spa.fl_str_mv microscopía
materiales
nanociencias
fuerza atómica
barrido túnel
fuerza magnética
topic microscopía
materiales
nanociencias
fuerza atómica
barrido túnel
fuerza magnética
description La última generación en tecnología microscópica, ha puesto en escenario un conjunto de técnicas genéricamente denominadas Microscopía de Barrido por Sonda (Scanning Probe Microscopy – SPM). Tales herramientas dan la posibilidad de realizar análisis detallado de propiedades morfológicas, mecánicas, químicas, entre otras, de la superficie estudiada, con resoluciones que en algunos casos son mayores que las logradas en microscopía electrónica. Las nuevas tecnologías basadas en nanociencias, se han apoyado en estos instrumentos para obtener imágenes aumentadas de unos pocos grupos de átomos, cuyo orden obedece a la naturaleza misma o a la manipulación deliberada, a la cual se ha accedido gracias al desarrollo de la nanotecnología. En este trabajo se presenta una descripción básica de los principios de funcionamiento, el panorama general de las aplicaciones de la técnica SPM en el análisis de materiales y algunos resultados obtenidos sobre diferentes tipos de muestras.
publishDate 2008
dc.date.issued.none.fl_str_mv 2008
dc.date.available.none.fl_str_mv 2020-06-12T16:46:28Z
dc.date.accessioned.none.fl_str_mv 2020-06-12T16:46:28Z
dc.date.none.fl_str_mv 2008
dc.type.eng.fl_str_mv article
info:eu-repo/semantics/article
publishedVersion
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.coarversion.fl_str_mv http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
dc.type.coar.fl_str_mv http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
http://purl.org/coar/resource_type/c_2df8fbb1
dc.type.local.spa.fl_str_mv Artículo
status_str publishedVersion
dc.identifier.issn.none.fl_str_mv 0120-341X
dc.identifier.uri.none.fl_str_mv http://hdl.handle.net/10784/16743
identifier_str_mv 0120-341X
url http://hdl.handle.net/10784/16743
dc.language.iso.none.fl_str_mv spa
language spa
dc.relation.isversionof.none.fl_str_mv http://publicaciones.eafit.edu.co/index.php/revista-universidad-eafit/article/view/131/126
dc.relation.uri.none.fl_str_mv http://publicaciones.eafit.edu.co/index.php/revista-universidad-eafit/article/view/131/126
dc.rights.eng.fl_str_mv Copyright © 2008 Mauricio Arroyave Franco
dc.rights.coar.fl_str_mv http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
dc.rights.local.spa.fl_str_mv Acceso abierto
rights_invalid_str_mv Copyright © 2008 Mauricio Arroyave Franco
Acceso abierto
http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.coverage.spatial.none.fl_str_mv Medellín de: Lat: 06 15 00 N degrees minutes Lat: 6.2500 decimal degrees Long: 075 36 00 W degrees minutes Long: -75.6000 decimal degrees
dc.publisher.spa.fl_str_mv Universidad EAFIT
dc.source.spa.fl_str_mv Revista Universidad EAFIT, Vol. 44, No. 151 (2008)
institution Universidad EAFIT
bitstream.url.fl_str_mv https://repository.eafit.edu.co/bitstreams/4431346b-965a-491b-bdc6-10a7c832b2f9/download
https://repository.eafit.edu.co/bitstreams/765a7b9c-1a5a-45bb-9de0-a69bdcef2aeb/download
https://repository.eafit.edu.co/bitstreams/f440dd9a-ec4e-472e-8760-ddf364a44959/download
bitstream.checksum.fl_str_mv 9ac51cb2b5f275d90bbb40324068baab
bde80153dccd4fdcc125e2af7d192ce0
625fdf931b3f5c78ac44927ed1615b17
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Repositorio Institucional Universidad EAFIT
repository.mail.fl_str_mv repositorio@eafit.edu.co
_version_ 1814110480866738176

Publicaciones similares