La microscopia de Barrido por Sonda: herramienta básica en las nanociencias

La última generación en tecnología microscópica, ha puesto en escenario un conjunto de técnicas genéricamente denominadas Microscopía de Barrido por Sonda (Scanning Probe Microscopy – SPM). Tales herramientas dan la posibilidad de realizar análisis detallado de propiedades morfológicas, mecánicas, q...

Full description

Autores:

Arroyave Franco, Mauricio

Tipo de recurso:

Fecha de publicación:

2008

Institución:

Universidad EAFIT

Repositorio:

Repositorio EAFIT

Idioma:

spa

OAI Identifier:

oai:repository.eafit.edu.co:10784/16743

Acceso en línea:

http://hdl.handle.net/10784/16743

Palabra clave:

microscopía
materiales
nanociencias
fuerza atómica
barrido túnel
fuerza magnética

Rights

License

Copyright © 2008 Mauricio Arroyave Franco