Desarrollo de un protocolo para la aplicación del método de Rietveld y del estándar interno en la caracterización de materiales cerámicos con contenido de amorfos
La técnica de difracción de rayos X de muestras en polvo se ha convertido en una de las herramientas más útiles en el ámbito internacional para el análisis mineralógico cuantitativo de materiales -- Con base en esta técnica se han desarrollado diversos métodos con los cuales no solo es posible obten...
- Autores:
-
Jaramillo Raquejo, Daniela
- Tipo de recurso:
- Fecha de publicación:
- 2015
- Institución:
- Universidad EAFIT
- Repositorio:
- Repositorio EAFIT
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repository.eafit.edu.co:10784/8531
- Acceso en línea:
- http://hdl.handle.net/10784/8531
- Palabra clave:
- Método de Rietveld
Estimación de incertidumbre
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DIFRACCIÓN DE RAYOS X
CRISTALOGRAFÍA
MÍNIMOS CUADRADOS
MATERIALES CERÁMICOS
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Crystallography
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