Desarrollo de un protocolo para la aplicación del método de Rietveld y del estándar interno en la caracterización de materiales cerámicos con contenido de amorfos

La técnica de difracción de rayos X de muestras en polvo se ha convertido en una de las herramientas más útiles en el ámbito internacional para el análisis mineralógico cuantitativo de materiales -- Con base en esta técnica se han desarrollado diversos métodos con los cuales no solo es posible obten...

Full description

Autores:
Jaramillo Raquejo, Daniela
Tipo de recurso:
Fecha de publicación:
2015
Institución:
Universidad EAFIT
Repositorio:
Repositorio EAFIT
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repository.eafit.edu.co:10784/8531
Acceso en línea:
http://hdl.handle.net/10784/8531
Palabra clave:
Método de Rietveld
Estimación de incertidumbre
X'Pert HighScore Plus
DIFRACCIÓN DE RAYOS X
CRISTALOGRAFÍA
MÍNIMOS CUADRADOS
MATERIALES CERÁMICOS
X-rays - diffraction
Crystallography
Least squares
Ceramic materials
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License
Acceso abierto