Medidas de transmitancia espectral sin la presencia de franjas de interferencia: un modelo para la obtención de las constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras

En este trabajo presentamos un modelo para la obtención de las constantes ópticas de películas delgadas semiconductoras cuando no es posible observar franjas de interferencia en los espectros. La obtención de las cons- tantes ópticas como el coeficiente de absorción (α), el índice de refracción (n),...

Full description

Autores:

Quiroz Gaitán, Heiddy Paola
López Ospina, Sandra Marcela
Calderón Cómbita, Jorge Arturo
Dussán Cuenca, Anderon

Tipo de recurso:

Article of journal

Fecha de publicación:

2014

Institución:

Universidad EIA .

Repositorio:

Repositorio EIA .

Idioma:

spa

OAI Identifier:

oai:repository.eia.edu.co:11190/4874

Acceso en línea:

https://repository.eia.edu.co/handle/11190/4874
https://revistas.eia.edu.co/index.php/reveia/article/view/578

Palabra clave:

películas delgadas
propiedades ópticas
semiconductores. Keywords
Thin Films
Optics Properties
Semiconductors

Rights

openAccess

License

Revista EIA - 2014