Nanoscale Characterization of ferroelectric thin film.
El propósito principal de esta investigación es el entendimiento de la dinámica de los dominios en películas delgadas ferroeléctricas cuando el tamaño de la estructura se aproxima al tamaño del grano (típicamente de 10 nm - 1µm), en la cual la formación de dominios es impedido, formándose un solo mo...
- Autores:
- Tipo de recurso:
- Fecha de publicación:
- 2005
- Institución:
- Ministerio de Ciencia Tecnología e Innovación
- Repositorio:
- Repositorio Institucional de Minciencias
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.minciencias.gov.co:20.500.14143/37927
- Acceso en línea:
- https://colciencias.metadirectorio.org/handle/11146/37927
http://colciencias.metabiblioteca.com.co
- Palabra clave:
- Crecimiento epitaxial
Materiales ferroeléctricos
Materiales óxidos
Películas delgadas
- Rights
- openAccess
- License
- http://purl.org/coar/access_right/c_abf2