Puntos críticos en una placa apoyada, convexa y simétrica con respecto de una recta

El problema de una placa que está apoyada en su frontera es un problema elíptico de cuarto orden que presenta un alto grado de dificultad. Aunque el problema de existencia, unicidad y regularidad de soluciones de éste problema está resuelto, existen aún preguntas abiertas respecto de las propiedades cualitativas del conjunto de puntos críticos de la solución del mismo. Más aún, son bien conocidas algunas técnicas que permiten estudiar dicho conjunto para ciertos problemas elípticos de orden dos, las cuales aún no se han extendido para estudiar el conjunto crítico de la solución del problema de la placa apoyada. Con base a lo anterior se buscó desacoplar el problema elíptico de orden cuatro, en dos problemas elípticos de orden dos, para aplicar técnicas conocidas para el estudio de estos problemas, como lo son el Principio del Máximo, la Técnica de Planos Móviles y el Lema de Hopf. Además se presenta un análisis cualitativo de la solución del problema de la placa poyada, cuando éste se considera en un dominio que admite una línea de simetría. Es importante mencionar que el estudio de los problemas de deflexiones de estructuras elásticas son de gran importancia para distintas áreas de la ingeniería.

• Autores: Segura Cardona, Natalia Inés
• Tipo de recurso: Tesis
• Fecha de publicación: 2019
• Institución: Pontificia Universidad Javeriana Cali
• Repositorio: Vitela
• Idioma: spa
• OAI Identifier: oai:vitela.javerianacali.edu.co:11522/1231
• Acceso en línea: https://vitela.javerianacali.edu.co/handle/11522/1231
• Palabra clave: Delfexión de esctructuras
• Rights: openAccess
• License: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/