Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales

Este libro de investigación en Ciencia-Física está dedicado al estudio de muestras auríferas tomadas de suelos minerales colombianos. El texto se considera útil para alumnos avanzados de Ciencias-Física, de Geología e ingeniería que estén familiarizados con la Ciencia de la Tierra. Constituye una gu...

Full description

Autores:
Bustos Rodríguez, Humberto
Oyola Lozano, Dagoberto
Rojas Martínez Yebrail Antonio
Tipo de recurso:
Book
Fecha de publicación:
2024
Institución:
Universidad del Tolima
Repositorio:
RIUT: Repositorio U. Tolima
Idioma:
OAI Identifier:
oai:repository.ut.edu.co:001/3850
Acceso en línea:
https://repository.ut.edu.co/handle/001/3850
Palabra clave:
530 - Física::535 - Luz y radiación relacionada
Física
Oro invisible
Espectrometría Mössbauer
Mineralogía determinativa
Rights
openAccess
License
http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
Description
Summary:Este libro de investigación en Ciencia-Física está dedicado al estudio de muestras auríferas tomadas de suelos minerales colombianos. El texto se considera útil para alumnos avanzados de Ciencias-Física, de Geología e ingeniería que estén familiarizados con la Ciencia de la Tierra. Constituye una guía para investigadores para realizar procesos investigativos con muestras tomadas en suelos agrícolas o auríferos. El texto inicia con una exposición acerca de generalidades de la difracción de rayos X, el método Rietveld y su base matemática, los cuales van a conducir a evaluar la calidad del refinamiento de los parámetros estructurales medidos y de las fases minerales obtenidas. Para conocer las propiedades electrónicas de las fases obtenidas en las muestras de estudio se hace una presentación teórica acerca de la emisión y absorción resonante de rayos g base de la espectrometría Mössbauer, necesaria para entender acerca de los parámetros hiperfinos como el desvío isomérico (d), el desdoblamiento cuadrupolar eléctrico (QS) y el Campo magnético hiperfino (H). El texto también hace un análisis teórico de espectrometría de masa de iones secundarios, comenzando desde el bombardeo del haz de iones, reconociendo los parámetros del efecto de sputering hasta teorizar acerca de la distribución de energía del ión secundario y su rendimiento. Además, hace una presentación de la instrumentación SIMS desde las fuentes de iones primarios y secundarios hasta abarcar los diferentes detectores de iones. El libro continua con las bases teóricas de Espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente – Microsonda de ablación laser (LAM-ICP-MS), hace una introducción sobre las bondades y precisión de ésta combinación de técnicas, los sistemas de vacío utilizados, las fuentes de ión como el plasma acoplado inductivamente y los diferentes detectores y analizadores de masa necesarios en la implementación de ésta técnica. La parte principal de éste texto la constituye el capítulo donde los autores presentan la metodología y los resultados experimentales.