(2024). Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales.
Chicago Style (17th ed.) CitationUso De Microscopía óptica, Espectrometría Mössbauer, Difracción De Rayos X, SIMS Y LAM-ICP-ms Para La Caracterización De Muestras Minerales. 2024.
MLA (8th ed.) CitationUso De Microscopía óptica, Espectrometría Mössbauer, Difracción De Rayos X, SIMS Y LAM-ICP-ms Para La Caracterización De Muestras Minerales. 2024.
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