Micro fabricación y caracterización de un sensor físico para la detección de Hg_(2+) :estudio de la interacción superficial entre oro y Hg_(2+) en láminas delgadas contínuas depositadas por técnica de evaporación térmica

Se expone el procedimiento para la determinación del proceso de interacción entre una muestra de oro (Au) laminar continuo, manufacturado mediante la técnica de evaporación térmica sobre vidrio borosilicato, y una oblea de silicio intrínseca 001 de la casa WRS materials; expuesto ante diferentes con...

Full description

Autores:
Tamayo Celis, Andrés Felipe
Tipo de recurso:
Trabajo de grado de pregrado
Fecha de publicación:
2018
Institución:
Universidad de los Andes
Repositorio:
Séneca: repositorio Uniandes
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.uniandes.edu.co:1992/40330
Acceso en línea:
http://hdl.handle.net/1992/40330
Palabra clave:
Contaminación del agua por mercurio
Voltamperometría
Sensores
Ingeniería
Rights
openAccess
License
https://repositorio.uniandes.edu.co/static/pdf/aceptacion_uso_es.pdf
id UNIANDES2_f2e204d89e16227458492a503b719a7c
oai_identifier_str oai:repositorio.uniandes.edu.co:1992/40330
network_acronym_str UNIANDES2
network_name_str Séneca: repositorio Uniandes
repository_id_str
dc.title.es_CO.fl_str_mv Micro fabricación y caracterización de un sensor físico para la detección de Hg_(2+) :estudio de la interacción superficial entre oro y Hg_(2+) en láminas delgadas contínuas depositadas por técnica de evaporación térmica
title Micro fabricación y caracterización de un sensor físico para la detección de Hg_(2+) :estudio de la interacción superficial entre oro y Hg_(2+) en láminas delgadas contínuas depositadas por técnica de evaporación térmica
spellingShingle Micro fabricación y caracterización de un sensor físico para la detección de Hg_(2+) :estudio de la interacción superficial entre oro y Hg_(2+) en láminas delgadas contínuas depositadas por técnica de evaporación térmica
Contaminación del agua por mercurio
Voltamperometría
Sensores
Ingeniería
title_short Micro fabricación y caracterización de un sensor físico para la detección de Hg_(2+) :estudio de la interacción superficial entre oro y Hg_(2+) en láminas delgadas contínuas depositadas por técnica de evaporación térmica
title_full Micro fabricación y caracterización de un sensor físico para la detección de Hg_(2+) :estudio de la interacción superficial entre oro y Hg_(2+) en láminas delgadas contínuas depositadas por técnica de evaporación térmica
title_fullStr Micro fabricación y caracterización de un sensor físico para la detección de Hg_(2+) :estudio de la interacción superficial entre oro y Hg_(2+) en láminas delgadas contínuas depositadas por técnica de evaporación térmica
title_full_unstemmed Micro fabricación y caracterización de un sensor físico para la detección de Hg_(2+) :estudio de la interacción superficial entre oro y Hg_(2+) en láminas delgadas contínuas depositadas por técnica de evaporación térmica
title_sort Micro fabricación y caracterización de un sensor físico para la detección de Hg_(2+) :estudio de la interacción superficial entre oro y Hg_(2+) en láminas delgadas contínuas depositadas por técnica de evaporación térmica
dc.creator.fl_str_mv Tamayo Celis, Andrés Felipe
dc.contributor.advisor.none.fl_str_mv Avila Bernal, Alba Graciela
Pérez Taborda, Jaime Andrés
dc.contributor.author.none.fl_str_mv Tamayo Celis, Andrés Felipe
dc.contributor.jury.none.fl_str_mv Porras Holguín, Niyireth Alicia
Lanza Bayona, Gustavo Adolfo
dc.subject.keyword.es_CO.fl_str_mv Contaminación del agua por mercurio
Voltamperometría
Sensores
topic Contaminación del agua por mercurio
Voltamperometría
Sensores
Ingeniería
dc.subject.themes.none.fl_str_mv Ingeniería
description Se expone el procedimiento para la determinación del proceso de interacción entre una muestra de oro (Au) laminar continuo, manufacturado mediante la técnica de evaporación térmica sobre vidrio borosilicato, y una oblea de silicio intrínseca 001 de la casa WRS materials; expuesto ante diferentes conentaciones de Hg_(2+) diluido en agua desionizada milli-Q, en un rango de 2 a 80 ug/L. Se generaron diferentes lotes de muestras de Au depositado sobre vidrio borosilicato con espesores nominales de 50 y 30 nm, ligados con 5 nm de cromo (Cr) al sustrato, y 30 nm sobre la oblea de silicio. Se desarrolló un método de exposición de las muestras a las diferentes conentaciones de Hg_(2+) cuantificando la variación existente en las características resistivas de la muestra, evaluado mediante la medición de la resistencia laminar superficial por la técnica de 4, y las variaciones morfológicas superficiales, determinadas mediante el uso de un microscopio de fuerza atómica (AFM) y un microscopio de barrido de electrones (SEM). Fue desarrollado un proceso de caracterización de las muestras inicial y posterior a la exposición para generar un índice de variación de las características eléctricas y morfológicas superficiales. Se hizo la medición de las muestras depositadas sobre vidrio borosilicato en la estación de 4 puntas mediante el uso del multímetro Agilent 34401A, con 6 dígitos de resolución, para la caracterización resistiva superficial de la muestra. De igual manera, se desarrolló el proceso de caracterización morfológico superficial mediante el uso del índice de rugosidad RMS, al igual que la visualización de los defectos superficiales observados mediante el uso de perfiles de la muestra, con el uso del equipo AFM. Paralelamente se desarrolló un proceso observatorio de las muestras por medio de SEM para determinar los defectos existentes en la superficie de las muestras
publishDate 2018
dc.date.issued.none.fl_str_mv 2018
dc.date.accessioned.none.fl_str_mv 2020-06-10T17:06:03Z
dc.date.available.none.fl_str_mv 2020-06-10T17:06:03Z
dc.type.spa.fl_str_mv Trabajo de grado - Pregrado
dc.type.coarversion.fl_str_mv http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
dc.type.driver.spa.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
dc.type.coar.spa.fl_str_mv http://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
dc.type.content.spa.fl_str_mv Text
dc.type.redcol.spa.fl_str_mv http://purl.org/redcol/resource_type/TP
format http://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
dc.identifier.uri.none.fl_str_mv http://hdl.handle.net/1992/40330
dc.identifier.pdf.none.fl_str_mv u808203.pdf
dc.identifier.instname.spa.fl_str_mv instname:Universidad de los Andes
dc.identifier.reponame.spa.fl_str_mv reponame:Repositorio Institucional Séneca
dc.identifier.repourl.spa.fl_str_mv repourl:https://repositorio.uniandes.edu.co/
url http://hdl.handle.net/1992/40330
identifier_str_mv u808203.pdf
instname:Universidad de los Andes
reponame:Repositorio Institucional Séneca
repourl:https://repositorio.uniandes.edu.co/
dc.language.iso.es_CO.fl_str_mv spa
language spa
dc.rights.uri.*.fl_str_mv https://repositorio.uniandes.edu.co/static/pdf/aceptacion_uso_es.pdf
dc.rights.accessrights.spa.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.coar.spa.fl_str_mv http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
rights_invalid_str_mv https://repositorio.uniandes.edu.co/static/pdf/aceptacion_uso_es.pdf
http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.extent.es_CO.fl_str_mv 35 hojas
dc.format.mimetype.es_CO.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.es_CO.fl_str_mv Uniandes
dc.publisher.program.es_CO.fl_str_mv Ingeniería Electrónica
dc.publisher.faculty.es_CO.fl_str_mv Facultad de Ingeniería
dc.publisher.department.es_CO.fl_str_mv Departamento de Ingeniería Eléctrica y Electrónica
dc.source.es_CO.fl_str_mv instname:Universidad de los Andes
reponame:Repositorio Institucional Séneca
instname_str Universidad de los Andes
institution Universidad de los Andes
reponame_str Repositorio Institucional Séneca
collection Repositorio Institucional Séneca
bitstream.url.fl_str_mv https://repositorio.uniandes.edu.co/bitstreams/fc74f167-89b9-40fd-a767-63e375cd81a2/download
https://repositorio.uniandes.edu.co/bitstreams/8ff9b4a9-ea15-46f2-bd8e-17b83b121e46/download
https://repositorio.uniandes.edu.co/bitstreams/6cc00078-597a-4347-8695-68094b74ee3b/download
bitstream.checksum.fl_str_mv 4e123bdceb10b953476459aaa9d6a860
1acf58711456a5030108c8643c2ef8c9
36c0a6527af7839efce58b1209ed3acc
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Repositorio institucional Séneca
repository.mail.fl_str_mv adminrepositorio@uniandes.edu.co
_version_ 1808390327799644160
spelling Al consultar y hacer uso de este recurso, está aceptando las condiciones de uso establecidas por los autores.https://repositorio.uniandes.edu.co/static/pdf/aceptacion_uso_es.pdfinfo:eu-repo/semantics/openAccesshttp://purl.org/coar/access_right/c_abf2Avila Bernal, Alba Graciela09b40c9e-0799-40e8-a1f0-ccb39b829b7a400Pérez Taborda, Jaime Andrésvirtual::9022-1Tamayo Celis, Andrés Felipe37ab4569-c17f-428f-b674-d64e846a3296400Porras Holguín, Niyireth AliciaLanza Bayona, Gustavo Adolfo2020-06-10T17:06:03Z2020-06-10T17:06:03Z2018http://hdl.handle.net/1992/40330u808203.pdfinstname:Universidad de los Andesreponame:Repositorio Institucional Sénecarepourl:https://repositorio.uniandes.edu.co/Se expone el procedimiento para la determinación del proceso de interacción entre una muestra de oro (Au) laminar continuo, manufacturado mediante la técnica de evaporación térmica sobre vidrio borosilicato, y una oblea de silicio intrínseca 001 de la casa WRS materials; expuesto ante diferentes conentaciones de Hg_(2+) diluido en agua desionizada milli-Q, en un rango de 2 a 80 ug/L. Se generaron diferentes lotes de muestras de Au depositado sobre vidrio borosilicato con espesores nominales de 50 y 30 nm, ligados con 5 nm de cromo (Cr) al sustrato, y 30 nm sobre la oblea de silicio. Se desarrolló un método de exposición de las muestras a las diferentes conentaciones de Hg_(2+) cuantificando la variación existente en las características resistivas de la muestra, evaluado mediante la medición de la resistencia laminar superficial por la técnica de 4, y las variaciones morfológicas superficiales, determinadas mediante el uso de un microscopio de fuerza atómica (AFM) y un microscopio de barrido de electrones (SEM). Fue desarrollado un proceso de caracterización de las muestras inicial y posterior a la exposición para generar un índice de variación de las características eléctricas y morfológicas superficiales. Se hizo la medición de las muestras depositadas sobre vidrio borosilicato en la estación de 4 puntas mediante el uso del multímetro Agilent 34401A, con 6 dígitos de resolución, para la caracterización resistiva superficial de la muestra. De igual manera, se desarrolló el proceso de caracterización morfológico superficial mediante el uso del índice de rugosidad RMS, al igual que la visualización de los defectos superficiales observados mediante el uso de perfiles de la muestra, con el uso del equipo AFM. Paralelamente se desarrolló un proceso observatorio de las muestras por medio de SEM para determinar los defectos existentes en la superficie de las muestrasThe procedure for the determination of the interaction process between a sample of continuous gold (Au) laminar, manufactured by the technique of thermal evaporation on borosilicate glass and an intrinsic silicon wafer 001 from WRS materials, and Hg_(2+) diluted in milli-Q deionized water, in a range of 2 to 80 ug/L is exposed. Different batches of Au samples deposited on borosilicate glass with nominal thicknesses of 50 and 30 nm were generated, bound with 5 nm of chromium (Cr) to the substrate, and 30 nm on the silicon wafer. A method of exposing the samples to the different Hg_(2+) concentrations was developed by quantifying the existing variation in the resistive characteristics of the sample, evaluated by measuring the surface laminar resistance by the technique of 4 wires, and the morphological surface variations, determined by the use of an atomic force microscope (AFM) and an electron scanning microscope (SEM). A process of characterization of the initial and post-exposure samples was developed to generate an index of variation of the electrical and morphological characteristics of the surface. The samples deposited on borosilicate glass were measured in the 4-point station using the Agilent 34401A multimeter, with 6 digits of resolution, in order to characterize the surface resistance. In the same way, the process of superficial morphological characterization was developed by the RMS roughness index, as well as the visualization of the superficial defects observed through the use of sample profiles, with the use of the AFM equipment. At the same time, an observational process of the samples was developed by SEM to determine the defects in the surface of the samplesIngeniero ElectrónicoPregrado35 hojasapplication/pdfspaUniandesIngeniería ElectrónicaFacultad de IngenieríaDepartamento de Ingeniería Eléctrica y Electrónicainstname:Universidad de los Andesreponame:Repositorio Institucional SénecaMicro fabricación y caracterización de un sensor físico para la detección de Hg_(2+) :estudio de la interacción superficial entre oro y Hg_(2+) en láminas delgadas contínuas depositadas por técnica de evaporación térmicaTrabajo de grado - Pregradoinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesishttp://purl.org/coar/resource_type/c_7a1fhttp://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85Texthttp://purl.org/redcol/resource_type/TPContaminación del agua por mercurioVoltamperometríaSensoresIngenieríaPublication95b7597d-5c28-48c9-b39a-b48f36e6e769virtual::9022-195b7597d-5c28-48c9-b39a-b48f36e6e769virtual::9022-1TEXTu808203.pdf.txtu808203.pdf.txtExtracted texttext/plain100500https://repositorio.uniandes.edu.co/bitstreams/fc74f167-89b9-40fd-a767-63e375cd81a2/download4e123bdceb10b953476459aaa9d6a860MD54THUMBNAILu808203.pdf.jpgu808203.pdf.jpgIM Thumbnailimage/jpeg9286https://repositorio.uniandes.edu.co/bitstreams/8ff9b4a9-ea15-46f2-bd8e-17b83b121e46/download1acf58711456a5030108c8643c2ef8c9MD55ORIGINALu808203.pdfapplication/pdf2095032https://repositorio.uniandes.edu.co/bitstreams/6cc00078-597a-4347-8695-68094b74ee3b/download36c0a6527af7839efce58b1209ed3accMD511992/40330oai:repositorio.uniandes.edu.co:1992/403302024-03-13 13:49:44.896https://repositorio.uniandes.edu.co/static/pdf/aceptacion_uso_es.pdfopen.accesshttps://repositorio.uniandes.edu.coRepositorio institucional Sénecaadminrepositorio@uniandes.edu.co