Elipsometría en dicalcogenuros de metales de transición

Los dicalcogenuros de metales de transición (TMDs) son materiales con propiedades físicas que permiten aplicaciones en nanoelectrónica y optoelectrónica, por lo tanto, el estudio de las propiedades electrónicas y ópticas de este tipo de materiales se hace de alto interés. Hay gran variedad en las té...

Full description

Autores:
Cárdenas Chirivi, Gabriel Iván
Tipo de recurso:
Trabajo de grado de pregrado
Fecha de publicación:
2021
Institución:
Universidad de los Andes
Repositorio:
Séneca: repositorio Uniandes
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.uniandes.edu.co:1992/50721
Acceso en línea:
http://hdl.handle.net/1992/50721
Palabra clave:
Compuestos de metales de transición
Materiales nanoestructurados
Calcogenuros
Superconductividad
Películas delgadas
Física
Rights
openAccess
License
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
Description
Summary:Los dicalcogenuros de metales de transición (TMDs) son materiales con propiedades físicas que permiten aplicaciones en nanoelectrónica y optoelectrónica, por lo tanto, el estudio de las propiedades electrónicas y ópticas de este tipo de materiales se hace de alto interés. Hay gran variedad en las técnicas de caracterización de los TMDs, sin embargo, una en particular, es llamativa en el sentido de que posee la capacidad de determinar las funciones ópticas este tipo de materiales, y al mismo tiempo, se puede obtener el espesor de películas delgadas de una manera no destructiva, esta técnica es la elipsometría espectroscópica. Así pues, en el presente proyecto se plantea generar modelos elipsométricos a partir de los conocimientos acerca de la estructura cristalina y optoelectrónica de diferentes TMDs, para así posteriormente caracterizar mediante espectroscopía elipsométrica muestras de disulfuro de molibdeno (MoS2) y disulfuro de tungsteno (WS2) que se sintetizarán por exfoliación en fase líquida en el laboratorio de Nanomateriales de la Universidad de los Andes. En consecuencia, de lo anterior se logró caracterizar de forma no destructiva las muestras sintetizadas mediante la técnica de elipsometría espectroscópica, en el sentido que se pudo sustraer información de la muestra como el grosor, la rugosidad y el porcentaje de los diferentes tipos de hojuelas y espacio vacío que componen la muestra, encontrándose que estas están compuestas por capas delgadas de los TMDs. Además, se comprobó que las funciones dieléctricas de los TMDs son fuertemente dependientes de ángulo de incidencia del láser del elipsómetro, lo cual sugiere que estos tipos de materiales poseen un alto grado de anisotropía. Y, finalmente, también se pudo calcular propiedades optoelectrónicas de las muestras como la susceptibilidad eléctrica y conductividad de hoja.