Caracterización de la composición de materiales con detector pixelado por conteo de fotones
Ingeniero Electrónico
- Autores:
-
Rivera Lozano, Camilo Andrés
- Tipo de recurso:
- Trabajo de grado de pregrado
- Fecha de publicación:
- 2014
- Institución:
- Universidad de los Andes
- Repositorio:
- Séneca: repositorio Uniandes
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.uniandes.edu.co:1992/20091
- Acceso en línea:
- http://hdl.handle.net/1992/20091
- Palabra clave:
- Ensayo de materiales - Investigaciones
Rayos X - Aplicaciones industriales
Ensayos (Tecnología) - Investigaciones
Ingeniería
- Rights
- openAccess
- License
- https://repositorio.uniandes.edu.co/static/pdf/aceptacion_uso_es.pdf
Summary: | Ingeniero Electrónico |
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