Banco experimental automatizado para la medición de intensidad relativa de ruido en láseres de semiconductor
Los osciladores son sistemas útiles en todos los procesos de telecomunicaciones, los cuales crean una señal de referencia con el fin de sincronizar el emisor con el receptor. En los osciladores opto-electrónicos se utiliza la tecnología óptica ya que a frecuencias ópticas surge una capacidad de tran...
- Autores:
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Casallas Farias, Juan Camilo
Heredia Lamprea, Jose Daniel
- Tipo de recurso:
- Trabajo de grado de pregrado
- Fecha de publicación:
- 2020
- Institución:
- Universidad El Bosque
- Repositorio:
- Repositorio U. El Bosque
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/5620
- Acceso en línea:
- http://hdl.handle.net/20.500.12495/5620
- Palabra clave:
- Potencia espectral
Intensidad relativa de ruido
Láser semiconductor
621.381
Spectral power
Relative intensity noise
Semiconductor laser
Osciladores eléctricos
Normas de frecuencia
Control del ruido
- Rights
- openAccess
- License
- Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International
| Summary: | Los osciladores son sistemas útiles en todos los procesos de telecomunicaciones, los cuales crean una señal de referencia con el fin de sincronizar el emisor con el receptor. En los osciladores opto-electrónicos se utiliza la tecnología óptica ya que a frecuencias ópticas surge una capacidad de transferencia de bits de información a alta velocidad. Los láseres de semiconductor se modulan a frecuencias de microondas (de 300 MHz a 30GHz) para enviar una señal óptica a través de un modulador opto-electrónico. Todas las señales que viajan por un medio están expuestas a diferentes tipos de ruidos los cuales degradan su pureza. Para identificar este ruido el primer paso es tener una forma de medida para proceder a eliminarlo. En este proyecto se realizará una herramienta automática que permita determinar la curva de intensidad relativa de ruido (RIN) en un láser de semiconductor. Para llevar a cabo este proyecto se realizará un banco de pruebas para la medida de los láseres de semiconductor como láser DFB utilizando un algoritmo que permita al usuario configurar los diferentes instrumentos de medida (multímetro, analizador de espectro) que permitan obtener las variables de interés (corriente foto detectada y potencia en el espectro) para transmitirla a un computador de manera automática con el fin de procesar la información recogida y mediante un algoritmo matemático arroje el resultado de la intensidad relativa de ruido y se pueda efectuar un sistema de visualización de la curva del RIN. |
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