Sistema para la medición de parámetros electrónicos en semiconductores (Paramcheck)

La problemática de este proyecto radica en la falta de herramientas accesibles para medir parámetros clave de componentes semiconductores, como diodos y transistores, agravada por variaciones en los procesos de fabricación y la proliferación de dispositivos falsificados en el mercado. Esto represent...

Full description

Autores:

Carrillo Martinez, Jose Luis

Tipo de recurso:

https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f

Fecha de publicación:

2025

Institución:

Universidad El Bosque

Repositorio:

Repositorio U. El Bosque

Idioma:

spa

OAI Identifier:

oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/14223

Acceso en línea:

https://hdl.handle.net/20.500.12495/14223

Palabra clave:

Circuito electrónico
Semiconductor
Transistor
Ingeniería eléctrica
Instrumento de medida
621.381
Electronic circuit
Semiconductor
Transistor
Electrical engineering
Measuring instrument

Rights

License

Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International