Sistema para la medición de parámetros electrónicos en semiconductores (Paramcheck)

La problemática de este proyecto radica en la falta de herramientas accesibles para medir parámetros clave de componentes semiconductores, como diodos y transistores, agravada por variaciones en los procesos de fabricación y la proliferación de dispositivos falsificados en el mercado. Esto representa un obstáculo para el diseño de circuitos electrónicos, ya que los valores reportados en las hojas de datos (datasheets) no siempre coinciden con el comportamiento real de los dispositivos en condiciones operativas. La incertidumbre sobre los parámetros puede generar diseños menos fiables, lo que destaca la necesidad de herramientas de medición precisas y accesibles. Aunque existen métodos y dispositivos para caracterizar estos parámetros, los sistemas de medición disponibles son costosos y no siempre accesibles para los diseñadores, lo que compromete el rendimiento y la fiabilidad de los sistemas electrónicos en aplicaciones donde la precisión es crucial. En este contexto, el proyecto se enfocó en el desarrollo de un sistema autónomo que permita medir y analizar parámetros específicos de semiconductores, como el voltaje de ruptura (Vz) en diodos Zener, el voltaje directo (Vf) en diodos comunes, y la ganancia de corriente (β) en transistores bipolares. La meta fue crear una herramienta accesible y robusta que permita a los usuarios obtener lecturas reales de los componentes provenientes de distintas fuentes y lotes. Durante el desarrollo del proyecto, se llevaron a cabo pruebas y simulaciones para validar el sistema y su precisión en la medición de los parámetros clave. El principal resultado del proyecto fue un sistema que ofrece a los ingenieros una forma de verificar el desempeño de los componentes sin depender de instrumentación externa. Esto representa una solución práctica para entornos de diseño y prueba, donde la verificación de componentes es fundamental para garantizar el correcto funcionamiento de circuitos electrónicos en aplicaciones experimentales y de enseñanza.

• Autores: Carrillo Martinez, Jose Luis
• Tipo de recurso: https://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
• Fecha de publicación: 2025
• Institución: Universidad El Bosque
• Repositorio: Repositorio U. El Bosque
• Idioma: spa
• OAI Identifier: oai:repositorio.unbosque.edu.co:20.500.12495/14223
• Acceso en línea: https://hdl.handle.net/20.500.12495/14223
• Palabra clave: Circuito electrónico; Semiconductor; Transistor; Ingeniería eléctrica; Instrumento de medida; 621.381; Electronic circuit; Semiconductor; Transistor; Electrical engineering; Measuring instrument
• License: Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International