Análisis de la articulación del diseño curricular del programa de ingeniería electrónica, en relación con los objetivos de aprendizaje asociados a metrología

La integración de metrología en programas como el de ingeniería electrónica de la Universidad Nacional de Colombia sede Bogotá es importante por su relación con el desempeño del egresado. Por tanto, la evaluación de la articulación de contenidos metrológicos se hizo a través de la construcción de una estructura general (4 fuentes consultadas), la búsqueda de los conceptos de tal estructura dentro de 12 asignaturas seleccionadas, y la comparación cognitiva de éstos (usando taxonomía de Bloom) con los requerimientos de expertos en industria, estado y academia. A partir de los conceptos hallados, se aplicó un DOFA que permitió tanto la construcción de matrices de estrategias para cada sector consultado como una matriz general. La estructura general contó con 5 ejes y 290 conceptos: aproximadamente 47% fueron hallados y cerca de un 18% están articulados adecuadamente en las asignaturas evaluadas (al nivel o por encima de las sugerencias de los expertos). Con DOFA, se destacaron ciertos elementos que el programa podría considerar: integración de un mayor número de contenidos prácticos, conocimiento más profundo de las necesidades de los sectores a través de la consulta a expertos, y reconocimiento de áreas como calidad, metrología industrial y calibración como ejes requeridos por la sociedad. En definitiva, surge una preocupación relativa a la falta de cooperación entre los sectores importantes para metrología, y esto puede ser una amenaza o una oportunidad de mejora que el programa de ingeniería electrónica no debería ignorar en su papel como ente formador.

• Autores: Culma Caviedes, Jose Eduin
• Fecha de publicación: 2019
• Institución: Universidad Nacional de Colombia
• Repositorio: Universidad Nacional de Colombia
• Idioma: spa
• OAI Identifier: oai:repositorio.unal.edu.co:unal/76364
• Acceso en línea: https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/76364; http://bdigital.unal.edu.co/72672/
• Palabra clave: Metrología; Ingeniería electrónica; Taxonomía de Bloom; DOFA; Metrology; Electronic Engineering; Bloom’s taxonomy; SWOT
• Rights: openAccess
• License: Atribución-NoComercial 4.0 Internacional