Estudio de propiedades estructurales de películas delgadas de cds depositadas por sublimación en espacio semicerrado
En este trabajo se estudia el efecto de las temperaturas del sustrato y de evaporación, de la distancia entre el evaporador y el sustrato sobre la fase y la orientación cristalográfica de películas delgadas de CdS, preparadas por el método de sublimación en espacio semicerrado (C.S.S.) usando la téc...
- Autores:
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Cediel, G.
Caicedo, L. M.
Flórez, M.
Gordillo, G.
- Tipo de recurso:
- Article of journal
- Fecha de publicación:
- 1993
- Institución:
- Universidad Nacional de Colombia
- Repositorio:
- Universidad Nacional de Colombia
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unal.edu.co:unal/44895
- Acceso en línea:
- https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/44895
http://bdigital.unal.edu.co/34995/
- Palabra clave:
- Temperaturas del sustrato
Evaporación
Difracción de rayos-x.
- Rights
- openAccess
- License
- Atribución-NoComercial 4.0 Internacional
| Summary: | En este trabajo se estudia el efecto de las temperaturas del sustrato y de evaporación, de la distancia entre el evaporador y el sustrato sobre la fase y la orientación cristalográfica de películas delgadas de CdS, preparadas por el método de sublimación en espacio semicerrado (C.S.S.) usando la técnica de difracción de rayos-x. |
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