Aplicación del procesamiento digital de señales al estudio de espectros ópticos de emisión
En este trabajo el primer paso consistió en llevar a cabo un suavizado y un filtrado de la señal, con el fin de eliminar el ruido y la información no relevante. La segunda parte consiste en la determinación automática de las longitudes de onda de los picos o máximos. Luego, se lleva a cabo la identi...
- Autores:
-
Restrepo Parra, Elisabeth
Riaño Rojas, Juan Carlos
Serna Morales, Andrés Felipe
Cárdenas Peña, David Augusto
Prieto Ortiz, Flavio Augusto
- Tipo de recurso:
- Article of journal
- Fecha de publicación:
- 2009
- Institución:
- Universidad Nacional de Colombia
- Repositorio:
- Universidad Nacional de Colombia
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- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unal.edu.co:unal/26385
- Acceso en línea:
- https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/26385
http://bdigital.unal.edu.co/17433/
- Palabra clave:
- Espectroscopía óptica de emisión
películas delgadas
plasma
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En este trabajo el primer paso consistió en llevar a cabo un suavizado y un filtrado de la señal, con el fin de eliminar el ruido y la información no relevante. La segunda parte consiste en la determinación automática de las longitudes de onda de los picos o máximos. Luego, se lleva a cabo la identificación elemental química de los picos empleando una base de datos especializada. Después de esto, el software permite la determinación de características necesarias para los cálculos como intensidad, FWHM (por su sigla en inglés Full Width at half Maximum, en español Ancho total a la Mitad del Máximo), los valores del continuo y el perfil de las líneas. Estos parámetros fueron empleados junto con métodos espectroscópicos tales como la gráfica de Boltzmann, relación entre intensidades de líneas de diferente grado de ionización y relación línea-continuo para determinar Texc= 4778.32 K, ne=2.54 1017 cm-3 y Te= 2668 K respectivamente. Estos valores son similares a los reportes, para este tipo de plasmas. El beneficio principal del software consintió en llevar a cabo todo el estudio del plasma en tiempo muy corto (del orden de segundos), mientras que su análisis manual puede tomar varios días. |
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