Cuantificación del índice de refracción de micro-objetos utilizando corrimientos de fase digital en Microscopía Holográfica Digital en Línea

En el desarrollo de esta tesis se implementó una técnica de corrimiento de fase en una configuración experimental de Microscopía Holográfica Digital en Línea (DIHM, por sus siglas en inglés Digital In Line Holographic Microscopy) de camino común, esto a través del uso de una pantalla de cristal líqu...

Full description

Autores:
Duarte Espinosa, Marcela
Tipo de recurso:
Fecha de publicación:
2017
Institución:
Universidad Nacional de Colombia
Repositorio:
Universidad Nacional de Colombia
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.unal.edu.co:unal/62250
Acceso en línea:
https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/62250
http://bdigital.unal.edu.co/61247/
Palabra clave:
53 Física / Physics
Microscopía Holográfica Digital en Línea
Interferómetro de Difracción Puntual
Pantallas de cristal líquido
Cuantificación de fase
Micro-objetos
Digital In Line Holographic Microscopy
Point Difraction interferometer
LCD
Phase quantification
Micro-objects
Rights
openAccess
License
Atribución-NoComercial 4.0 Internacional
Description
Summary:En el desarrollo de esta tesis se implementó una técnica de corrimiento de fase en una configuración experimental de Microscopía Holográfica Digital en Línea (DIHM, por sus siglas en inglés Digital In Line Holographic Microscopy) de camino común, esto a través del uso de una pantalla de cristal líquido ubicada en un Interferómetro de Difracción Puntual (PDI, por sus siglas en inglés Point Difraction interferometer) y se comprobó su eficacia a través del calculo del índice de refracción de micro-objetos traslúcidos. En esta configuración la pantalla de cristal líquido actúa como un retardador de onda y posee un agujero eléctrico en su centro de donde emerge una onda esférica. A través de la aplicación de una diferencia de potencial, se inducen cambios de fase controlados sobre toda el área de la pantalla, menos en la región del agujero; con esto se tiene un sistema de corrimiento de fase digital. El objeto traslúcido a estudiar es iluminado por una fuente de luz coherente y el campo transmitido por él se hace incidir sobre la pantalla, éste campo se comportará como onda objeto y la onda esférica que emerge por el agujero se comportará como onda de referencia, conformando con esto una arquitectura de Microscopía Holográfica Digital en línea con la posibilidad de realizar corrimientos de fase digital sobre la onda objeto, lo cual permite cuantificar la diferencia de fase entre la onda objeto y la onda de referencia, mediante un algoritmo de corrimiento de fase similar al utilizado por Yamaguchi. Previo a la cuantificación de la fase, se realizó una calibración local de la pantalla mediante un método polarimétrico, basado en las propiedades físicas de los cristales líquidos y matrices de Mueller, el cual permitió obtener una curva de variación de fase en función de la diferencia de potencial aplicado, así como verificar la homogeneidad de la variación de fase producida a la onda objeto.