Estrategia iterativa de ajuste de carga aplicada a localización de fallas en sistemas de distribución de energía

La metodología de localización propuesta está basada en una estrategia iterativa de ajuste de carga para sistemas de distribución. La estrategia utiliza las mediciones de tensión y corriente obtenidas en la cabecera del circuito, por lo tanto, considera cualquier variación presente en los instantes...

Full description

Autores:
Orozco Henao, César Augusto
Mora Flórez, Juan José
Pérez-Londoño, Sandra Milena
Tipo de recurso:
Article of journal
Fecha de publicación:
2013
Institución:
Universidad Nacional de Colombia
Repositorio:
Universidad Nacional de Colombia
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:repositorio.unal.edu.co:unal/39908
Acceso en línea:
https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/39908
http://bdigital.unal.edu.co/30005/
Palabra clave:
Análisis de cortocircuito
localización de fallas
métodos basados en la estimación de la impedancia
refinamiento de carga
sistemas de distribución
Rights
openAccess
License
Atribución-NoComercial 4.0 Internacional
Description
Summary:La metodología de localización propuesta está basada en una estrategia iterativa de ajuste de carga para sistemas de distribución. La estrategia utiliza las mediciones de tensión y corriente obtenidas en la cabecera del circuito, por lo tanto, considera cualquier variación presente en los instantes de falla y pre-falla. Además, utiliza un proceso de refinamiento en la estimación de la carga que tiene en cuenta el cálculo de la distancia a la falla de las iteraciones anteriores, para resolver de manera determinística el problema de localización de fallas. La localización de la falla se determina por la estimación de la distancia desde la cabecera del circuito al punto falla, la cual se obtiene a partir de un análisis de cortocircuito en función de los parámetros de fase del sistema. La metodología se valida en el sistema de prueba IEEE 34 nodos conformado por ramales monofásicos, bifásicos y trifásicos, para todos los tipos de fallas y considerando resistencias de falla entre 0Ω y 40Ω, en las cuales se presentan errores de estimación inferiores al 1%.