Diseño de un plan de muestreo simple por atributos en busca de un optimo social

Los planes de muestreo simple son una de las herramientas empleada en la industria para aceptar o rechazar lotes. Normalmente, los parámetros necesarios -riesgo del productor y riesgo del consumidor, y nivel aceptable de calidad y el nivel límite de calidad- son asignados por cada uno productor o consumidor buscando su beneficio personal. Tomar decisiones en esta forma no tiene en cuenta el daño que un producto no-conforme genera a la sociedad, por ejemplo el daño producido por una maquina defectuosa al operador. En el presente estudio desarrollamos un modelo que combina planes de muestreo simple por atributo con la carta de control del número de productos no-conformes. El modelo maximiza el bienestar social encontrando políticas óptimas de precio, tamaño de muestra y número de aceptación. Esta metodología permite identificar cambios inesperados en el proceso de producción e implementar planes de recuperación de clientes afectados por adquirir productos defectuosos. La aplicación de esta metodología en una empresa de confecciones mostró un incremento del 8% en el beneficio, cuando comparamos estos resultados con el proceso actual. Finalmente, nuestra metodología también permite implementar planes de mejora continua.

• Autores: Rios Griego, John Henry
• Tipo de recurso: Article of journal
• Fecha de publicación: 2011
• Institución: Universidad Nacional de Colombia
• Repositorio: Universidad Nacional de Colombia
• Idioma: spa
• OAI Identifier: oai:repositorio.unal.edu.co:unal/35066
• Acceso en línea: https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/35066; http://bdigital.unal.edu.co/25146/
• Palabra clave: Optimización; Cartas de control; Planes de muestreo simple; Actualización Bayesiana; Programación dinámica
• Rights: openAccess
• License: Atribución-NoComercial 4.0 Internacional