Estudio de superficies usando un microscopio de efecto túnel (stm)
Los microscopios de barrido se han convertido en las manos y los “ojos” de experimentadores de nuestro siglo, son herramien- tas necesarias en los laboratorios de educación e investigación para la caracterización a nanoescalas. El presente artículo pre- senta las modificaciones en la implementación...
- Autores:
-
Ávila Bernal, Alba Graciela
Bonilla Osorio, Ruy Sebastián
- Tipo de recurso:
- Article of journal
- Fecha de publicación:
- 2009
- Institución:
- Universidad Nacional de Colombia
- Repositorio:
- Universidad Nacional de Colombia
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unal.edu.co:unal/29192
- Acceso en línea:
- https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/29192
http://bdigital.unal.edu.co/19240/
http://bdigital.unal.edu.co/19240/2/
- Palabra clave:
- STM
tunnel effect
piezoelectric
PI control
bias
hysteresis
drift
STM
efecto túnel
piezoeléctrico
control PI
bias
histéresis
deriva
- Rights
- openAccess
- License
- Atribución-NoComercial 4.0 Internacional
Summary: | Los microscopios de barrido se han convertido en las manos y los “ojos” de experimentadores de nuestro siglo, son herramien- tas necesarias en los laboratorios de educación e investigación para la caracterización a nanoescalas. El presente artículo pre- senta las modificaciones en la implementación electrónica (caracterización de los piezoeléctricos y sistema de barrido) y mecáni- ca (diseño de un sistema de antivibración) de un microscopio de barrido de efecto túnel que han permitido visualización y modi- ficación de superficies a nanoescala. Se describe una metodología para la correcta visualización y caracterización de superficies usando el instrumento implementado, alcanzando la cuantificación bidimensional de características de hasta 1300nm2, con re- solución ~15nm. Esta metodología, determinada experimentalmente, tiene en cuenta parámetros críticos para la estabilización de la corriente túnel, como lo son la velocidad de barrido y las geometrías y dimensiones de las agujas del microscopio. La ver- satilidad del microscopio permite modificar y visualizar los defectos introducidos en muestras de HOPG al aplicar voltajes entre la punta del microscopio y la muestra. Los resultados aquí descritos permiten presentar fácilmente los conceptos de barrido to- pográfico y litografía. |
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