Producción, caracterización microestructural y estudio de la resistencia a la corrosión de recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz depositados con el sistema de UBM
En este trabajo se produjeron recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz sobre acero inoxidable AISI 304 mediante la técnica del UBM (unbalance magnetrón - Sputtering con magnetrón desbalanceado), variando el contenido de Si, y se evaluó su resistencia frente al fenómeno corrosivo por medio de la...
- Autores:
-
Velasco Estrada, Leonardo
- Tipo de recurso:
- Fecha de publicación:
- 2011
- Institución:
- Universidad Nacional de Colombia
- Repositorio:
- Universidad Nacional de Colombia
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unal.edu.co:unal/7860
- Palabra clave:
- 62 Ingeniería y operaciones afines / Engineering
Corrosión
Difracción
Espectroscopía
Fluorescencia
Impedancia
Microestructura
Microscopía
Nanodureza
Polarización
Películas Delgadas
Rayos X
Sputtering
XPS / Corrosion
Diffraction
Fluorescence
Impedance
Microscopy
Microstructure
Nanohardness
Polarization
Spectroscopy
Sputtering
thin films
XPS
X rays
- Rights
- openAccess
- License
- Atribución-NoComercial 4.0 Internacional
id |
UNACIONAL2_1d8d11561532f0ccc914d4b6f63012fa |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:repositorio.unal.edu.co:unal/7860 |
network_acronym_str |
UNACIONAL2 |
network_name_str |
Universidad Nacional de Colombia |
repository_id_str |
|
dc.title.spa.fl_str_mv |
Producción, caracterización microestructural y estudio de la resistencia a la corrosión de recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz depositados con el sistema de UBM |
title |
Producción, caracterización microestructural y estudio de la resistencia a la corrosión de recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz depositados con el sistema de UBM |
spellingShingle |
Producción, caracterización microestructural y estudio de la resistencia a la corrosión de recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz depositados con el sistema de UBM 62 Ingeniería y operaciones afines / Engineering Corrosión Difracción Espectroscopía Fluorescencia Impedancia Microestructura Microscopía Nanodureza Polarización Películas Delgadas Rayos X Sputtering XPS / Corrosion Diffraction Fluorescence Impedance Microscopy Microstructure Nanohardness Polarization Spectroscopy Sputtering thin films XPS X rays |
title_short |
Producción, caracterización microestructural y estudio de la resistencia a la corrosión de recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz depositados con el sistema de UBM |
title_full |
Producción, caracterización microestructural y estudio de la resistencia a la corrosión de recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz depositados con el sistema de UBM |
title_fullStr |
Producción, caracterización microestructural y estudio de la resistencia a la corrosión de recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz depositados con el sistema de UBM |
title_full_unstemmed |
Producción, caracterización microestructural y estudio de la resistencia a la corrosión de recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz depositados con el sistema de UBM |
title_sort |
Producción, caracterización microestructural y estudio de la resistencia a la corrosión de recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz depositados con el sistema de UBM |
dc.creator.fl_str_mv |
Velasco Estrada, Leonardo |
dc.contributor.author.spa.fl_str_mv |
Velasco Estrada, Leonardo |
dc.contributor.spa.fl_str_mv |
Olaya Florez, Jhon Jairo |
dc.subject.ddc.spa.fl_str_mv |
62 Ingeniería y operaciones afines / Engineering |
topic |
62 Ingeniería y operaciones afines / Engineering Corrosión Difracción Espectroscopía Fluorescencia Impedancia Microestructura Microscopía Nanodureza Polarización Películas Delgadas Rayos X Sputtering XPS / Corrosion Diffraction Fluorescence Impedance Microscopy Microstructure Nanohardness Polarization Spectroscopy Sputtering thin films XPS X rays |
dc.subject.proposal.spa.fl_str_mv |
Corrosión Difracción Espectroscopía Fluorescencia Impedancia Microestructura Microscopía Nanodureza Polarización Películas Delgadas Rayos X Sputtering XPS / Corrosion Diffraction Fluorescence Impedance Microscopy Microstructure Nanohardness Polarization Spectroscopy Sputtering thin films XPS X rays |
description |
En este trabajo se produjeron recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz sobre acero inoxidable AISI 304 mediante la técnica del UBM (unbalance magnetrón - Sputtering con magnetrón desbalanceado), variando el contenido de Si, y se evaluó su resistencia frente al fenómeno corrosivo por medio de la técnica de polarización potenciodinámica y espectroscopía de impedancia electroquímica en una solución al 3% de NaCl. La microestructura de los recubrimientos se analizó mediante XRD (X ray diffraction– difracción de rayos x), SEM (scanning electron microscopy - microscopía electrónica de barrido) y microscopía laser confocal. La composición química se identificó con la técnica XRF (X ray fluorescence - fluorescencia de rayos X) y la energía de ligadura con XPS (X ray photoelectron Spectroscopy – espectroscopía de fotoelectrones por rayos X). Se determinó la dureza y el modulo elástico con un nanodurómetro y se evaluó la resistencia a la corrosión con técnicas electroquímicas de polarización potenciodinámica y espectroscopía de impedancia. La adición de Silicio en la producción de recubrimientos a base de NbN produjo un cambio en la microestructura para contenidos superiores al 5 % de Si mediante la transición de un recubrimiento cristalino a amorfo. En los recubrimientos de NbN codepositados con Si se pudo observar mediante el análisis de composición química la presencia del Si3N4 siendo este un compuesto amorfo. La dureza de los recubrimientos se incrementó desde 18 GPa hasta 29 GPa con el aumento del Si. La microscopía electrónica reveló superficies con baja rugosidad y pocos defectos provocados por el fenómeno de corrosión. Al observar la sección transversal de los recubrimientos se encontró la presencia de una estructura columnar y con la adición de Si se presentaron columnas más definidas, sin embargo para una concentración del 13.1 % de Si y mayores la estructura columnar desapareció y se presentó un crecimiento amorfo. La microscopía confocal reveló superficies lisas y con baja rugosidad, corroborando los resultados observados con el SEM. Finalmente, los resultados de corrosión sugieren que los recubrimientos con un alto contenido de Silicio tienen un mejor comportamiento frente a la corrosión del sistema. Estas pruebas se desarrollaron con el objetivo de establecer el efecto como barrera de protección de los recubrimientos con respecto al acero inoxidable e interpretar el posible mecanismo de corrosión presente sobre estas superficies con diferentes cantidades de Si en los recubrimientos. / Abstract. On this work, we grew nanostructure thin films of NbxSiyNz on stainless steel AISI304 by the UBM technique with different contents of Si. Then, an evaluation of its corrosion resistance was performed by the potentiodynamic polarization and electrochemical impedance spectroscopy techniques on a NaCl 3% solution. microscopy (SEM) and laser scanning microscopy. The chemical composition and binfing energy were identified by X-Ray Fluorescence (XRF) and X-Ray Photon-electron spectroscopy (XPS) techniques. The hardness and elastic modulus were calculated by nanoindentation technique and finally, the corrosion resistance was studied by potentiodynamic polarization and electrochemical impedance spectroscopy. The addition of Si on the NbN thin films produced a microstructure change for contents over 5 % Si by the transition from crystalline to amorphous phase. The chemical analyses presented the existence of an amorphous phase of Si3N4 on the thin films of NbN codeposited with Si. The hardness was improved by the addition of Si in to the process from 18 GPa to 29 GPa. The electron microscopy reveled surfaces with low roughness and few defects after corrosion phenomena process. The transversal analysis showed a columnar structure on thin films with Si concentration below 13.1%. However, on thin films over 13.1% Si content an amorphous structure was observed. Confocal microscopy revealed smooth surfaces with low roughness, corroborating the results founded by the SEM. Finally, corrosion test results suggested that thin films with the highest content of Silicon present better results against corrosion phenomena. These tests were performed with the aim to establish the effect as protection barrier by the coatings produced on the stainless steel AISI 304 and to interpret the corrosion mechanism in the process according to the Si quantity. |
publishDate |
2011 |
dc.date.issued.spa.fl_str_mv |
2011 |
dc.date.accessioned.spa.fl_str_mv |
2019-06-24T16:57:35Z |
dc.date.available.spa.fl_str_mv |
2019-06-24T16:57:35Z |
dc.type.spa.fl_str_mv |
Trabajo de grado - Maestría |
dc.type.driver.spa.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/masterThesis |
dc.type.version.spa.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/acceptedVersion |
dc.type.content.spa.fl_str_mv |
Text |
dc.type.redcol.spa.fl_str_mv |
http://purl.org/redcol/resource_type/TM |
status_str |
acceptedVersion |
dc.identifier.uri.none.fl_str_mv |
https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/7860 |
dc.identifier.eprints.spa.fl_str_mv |
http://bdigital.unal.edu.co/4319/ |
url |
https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/7860 http://bdigital.unal.edu.co/4319/ |
dc.language.iso.spa.fl_str_mv |
spa |
language |
spa |
dc.relation.ispartof.spa.fl_str_mv |
Universidad Nacional de Colombia Sede Bogotá Facultad de Ingeniería Departamento de Ingeniería Mecánica y Mecatrónica Ingeniería Mecatrónica Ingeniería Mecatrónica |
dc.relation.references.spa.fl_str_mv |
Velasco Estrada, Leonardo (2011) Producción, caracterización microestructural y estudio de la resistencia a la corrosión de recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz depositados con el sistema de UBM. Maestría thesis, Universidad Nacional de Colombia. |
dc.rights.spa.fl_str_mv |
Derechos reservados - Universidad Nacional de Colombia |
dc.rights.coar.fl_str_mv |
http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 |
dc.rights.license.spa.fl_str_mv |
Atribución-NoComercial 4.0 Internacional |
dc.rights.uri.spa.fl_str_mv |
http://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/ |
dc.rights.accessrights.spa.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
rights_invalid_str_mv |
Atribución-NoComercial 4.0 Internacional Derechos reservados - Universidad Nacional de Colombia http://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/ http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.format.mimetype.spa.fl_str_mv |
application/pdf |
institution |
Universidad Nacional de Colombia |
bitstream.url.fl_str_mv |
https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/1/299931.2011pte_2.pdf https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/2/299931.2011pte_1.pdf https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/3/299931.2011pte_3.pdf https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/4/299931.2011pte_4.pdf https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/5/299931.2011pte_2.pdf.jpg https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/6/299931.2011pte_1.pdf.jpg https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/7/299931.2011pte_3.pdf.jpg https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/8/299931.2011pte_4.pdf.jpg |
bitstream.checksum.fl_str_mv |
4bcf42cccba6d2d3b986f06b33234b21 aea02361d3589d49fb66bda1d6c4bfbc 5afbfd3fb280fc27f55ddb1fad8c9671 997102111275f4fd3f8af5968db454c5 2b5c7372ceabc5fd66e10fbbc16b70d9 da92d2ae165359c77d1c25547325c315 1c3d56a820991556415190b318851bec b3fcdd529615c47419a315bb6e053ee4 |
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv |
MD5 MD5 MD5 MD5 MD5 MD5 MD5 MD5 |
repository.name.fl_str_mv |
Repositorio Institucional Universidad Nacional de Colombia |
repository.mail.fl_str_mv |
repositorio_nal@unal.edu.co |
_version_ |
1814089273569181696 |
spelling |
Atribución-NoComercial 4.0 InternacionalDerechos reservados - Universidad Nacional de Colombiahttp://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/info:eu-repo/semantics/openAccesshttp://purl.org/coar/access_right/c_abf2Olaya Florez, Jhon JairoVelasco Estrada, Leonardo8efe415d-18ac-4453-bc41-7de3b00a68083002019-06-24T16:57:35Z2019-06-24T16:57:35Z2011https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/7860http://bdigital.unal.edu.co/4319/En este trabajo se produjeron recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz sobre acero inoxidable AISI 304 mediante la técnica del UBM (unbalance magnetrón - Sputtering con magnetrón desbalanceado), variando el contenido de Si, y se evaluó su resistencia frente al fenómeno corrosivo por medio de la técnica de polarización potenciodinámica y espectroscopía de impedancia electroquímica en una solución al 3% de NaCl. La microestructura de los recubrimientos se analizó mediante XRD (X ray diffraction– difracción de rayos x), SEM (scanning electron microscopy - microscopía electrónica de barrido) y microscopía laser confocal. La composición química se identificó con la técnica XRF (X ray fluorescence - fluorescencia de rayos X) y la energía de ligadura con XPS (X ray photoelectron Spectroscopy – espectroscopía de fotoelectrones por rayos X). Se determinó la dureza y el modulo elástico con un nanodurómetro y se evaluó la resistencia a la corrosión con técnicas electroquímicas de polarización potenciodinámica y espectroscopía de impedancia. La adición de Silicio en la producción de recubrimientos a base de NbN produjo un cambio en la microestructura para contenidos superiores al 5 % de Si mediante la transición de un recubrimiento cristalino a amorfo. En los recubrimientos de NbN codepositados con Si se pudo observar mediante el análisis de composición química la presencia del Si3N4 siendo este un compuesto amorfo. La dureza de los recubrimientos se incrementó desde 18 GPa hasta 29 GPa con el aumento del Si. La microscopía electrónica reveló superficies con baja rugosidad y pocos defectos provocados por el fenómeno de corrosión. Al observar la sección transversal de los recubrimientos se encontró la presencia de una estructura columnar y con la adición de Si se presentaron columnas más definidas, sin embargo para una concentración del 13.1 % de Si y mayores la estructura columnar desapareció y se presentó un crecimiento amorfo. La microscopía confocal reveló superficies lisas y con baja rugosidad, corroborando los resultados observados con el SEM. Finalmente, los resultados de corrosión sugieren que los recubrimientos con un alto contenido de Silicio tienen un mejor comportamiento frente a la corrosión del sistema. Estas pruebas se desarrollaron con el objetivo de establecer el efecto como barrera de protección de los recubrimientos con respecto al acero inoxidable e interpretar el posible mecanismo de corrosión presente sobre estas superficies con diferentes cantidades de Si en los recubrimientos. / Abstract. On this work, we grew nanostructure thin films of NbxSiyNz on stainless steel AISI304 by the UBM technique with different contents of Si. Then, an evaluation of its corrosion resistance was performed by the potentiodynamic polarization and electrochemical impedance spectroscopy techniques on a NaCl 3% solution. microscopy (SEM) and laser scanning microscopy. The chemical composition and binfing energy were identified by X-Ray Fluorescence (XRF) and X-Ray Photon-electron spectroscopy (XPS) techniques. The hardness and elastic modulus were calculated by nanoindentation technique and finally, the corrosion resistance was studied by potentiodynamic polarization and electrochemical impedance spectroscopy. The addition of Si on the NbN thin films produced a microstructure change for contents over 5 % Si by the transition from crystalline to amorphous phase. The chemical analyses presented the existence of an amorphous phase of Si3N4 on the thin films of NbN codeposited with Si. The hardness was improved by the addition of Si in to the process from 18 GPa to 29 GPa. The electron microscopy reveled surfaces with low roughness and few defects after corrosion phenomena process. The transversal analysis showed a columnar structure on thin films with Si concentration below 13.1%. However, on thin films over 13.1% Si content an amorphous structure was observed. Confocal microscopy revealed smooth surfaces with low roughness, corroborating the results founded by the SEM. Finally, corrosion test results suggested that thin films with the highest content of Silicon present better results against corrosion phenomena. These tests were performed with the aim to establish the effect as protection barrier by the coatings produced on the stainless steel AISI 304 and to interpret the corrosion mechanism in the process according to the Si quantity.Maestríaapplication/pdfspaUniversidad Nacional de Colombia Sede Bogotá Facultad de Ingeniería Departamento de Ingeniería Mecánica y Mecatrónica Ingeniería MecatrónicaIngeniería MecatrónicaVelasco Estrada, Leonardo (2011) Producción, caracterización microestructural y estudio de la resistencia a la corrosión de recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz depositados con el sistema de UBM. Maestría thesis, Universidad Nacional de Colombia.62 Ingeniería y operaciones afines / EngineeringCorrosiónDifracciónEspectroscopíaFluorescenciaImpedanciaMicroestructuraMicroscopíaNanodurezaPolarizaciónPelículas DelgadasRayos XSputteringXPS / CorrosionDiffractionFluorescenceImpedanceMicroscopyMicrostructureNanohardnessPolarizationSpectroscopySputteringthin filmsXPSX raysProducción, caracterización microestructural y estudio de la resistencia a la corrosión de recubrimientos nanoestructurados de NbxSiyNz depositados con el sistema de UBMTrabajo de grado - Maestríainfo:eu-repo/semantics/masterThesisinfo:eu-repo/semantics/acceptedVersionTexthttp://purl.org/redcol/resource_type/TMORIGINAL299931.2011pte_2.pdfapplication/pdf2714164https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/1/299931.2011pte_2.pdf4bcf42cccba6d2d3b986f06b33234b21MD51299931.2011pte_1.pdfapplication/pdf2358097https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/2/299931.2011pte_1.pdfaea02361d3589d49fb66bda1d6c4bfbcMD52299931.2011pte_3.pdfapplication/pdf1818304https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/3/299931.2011pte_3.pdf5afbfd3fb280fc27f55ddb1fad8c9671MD53299931.2011pte_4.pdfapplication/pdf2107494https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/4/299931.2011pte_4.pdf997102111275f4fd3f8af5968db454c5MD54THUMBNAIL299931.2011pte_2.pdf.jpg299931.2011pte_2.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg7382https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/5/299931.2011pte_2.pdf.jpg2b5c7372ceabc5fd66e10fbbc16b70d9MD55299931.2011pte_1.pdf.jpg299931.2011pte_1.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg3789https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/6/299931.2011pte_1.pdf.jpgda92d2ae165359c77d1c25547325c315MD56299931.2011pte_3.pdf.jpg299931.2011pte_3.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg7470https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/7/299931.2011pte_3.pdf.jpg1c3d56a820991556415190b318851becMD57299931.2011pte_4.pdf.jpg299931.2011pte_4.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg6403https://repositorio.unal.edu.co/bitstream/unal/7860/8/299931.2011pte_4.pdf.jpgb3fcdd529615c47419a315bb6e053ee4MD58unal/7860oai:repositorio.unal.edu.co:unal/78602023-08-29 23:04:57.921Repositorio Institucional Universidad Nacional de Colombiarepositorio_nal@unal.edu.co |