Determinación de propiedades estructurales y esfuerzos residuales de películas delgadas de YBaCo4O7+d depositadas sobre sustratos monocristalinos por técnica de Pulverización Catódica
Resumen: YBaCo4O7+δ en polvo fue obtenido por medio de reacción en estado sólido estándar a partir de precursores de alta pureza. El polvo fue prensado en pastillas (1 pulgada de diámetro) y sinterizado a 1300 °C por 24 h. Las pastillas fueron utilizadas como targets para el sistema de pulverización...
- Autores:
-
Gómez Zapata, Adrián
- Tipo de recurso:
- Fecha de publicación:
- 2015
- Institución:
- Universidad Nacional de Colombia
- Repositorio:
- Universidad Nacional de Colombia
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unal.edu.co:unal/52444
- Acceso en línea:
- https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/52444
http://bdigital.unal.edu.co/46787/
- Palabra clave:
- 62 Ingeniería y operaciones afines / Engineering
Películas delgadas
Esfuerzos residuales
Cobaltitas
Propiedades mecánicas
Cobaltites
Mechanical properties
Thin films
Residual stress
- Rights
- openAccess
- License
- Atribución-NoComercial 4.0 Internacional
Summary: | Resumen: YBaCo4O7+δ en polvo fue obtenido por medio de reacción en estado sólido estándar a partir de precursores de alta pureza. El polvo fue prensado en pastillas (1 pulgada de diámetro) y sinterizado a 1300 °C por 24 h. Las pastillas fueron utilizadas como targets para el sistema de pulverización catódica dc. De estos targets, se depositaron películas delgadas de YBaCo4O7+δ sobre sustratos monocristalinos, titanato de estroncio (SrTiO3) y zafiro (Al2O3). Las propiedades estructurales del material en diferentes formas (polvo, target y películas delgadas) fueron caracterizados por Difracción de Rayos X (DRX). Las propiedades morfológicas y la composición química de las muestras fueron determinadas por Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) y Espectroscopía de Rayos X de Energía Dispersiva (EDS). La morfología superficial de las películas fue estudiada por Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). Las propiedades mecánicas como el coeficiente de expansión térmica, dureza y módulo de Young fueron determinados por dilatometría (DIL) y nanoindentación instrumentada (Nano dureza). Los esfuerzos residuales de las películas fueron estimados analizando los difractogramas de rayos X dentro del marco de referencia del modelo de Williamson-Hall (W-H). Se observó una buena concordancia entre los modelos de Williamson-Hall y la nanoindentación, particularmente con respecto al módulo de Young. Los resultados obtenidos en esta tesis son nuevos y contribuirán a expandir el conocimiento actual acerca de las propiedades mecánicas y fisicoquímicas de la cobaltita YBaCo4O7+δ. |
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