Tamaño de muestra robusta para planes de demostración weibull
La eficiencia de un plan de demostración Weibull está completamente determinada por el tiempo total de experimentación (Ta) el cual depende del tamaño de muestra desconocido (n) y del parámetro de forma Weibull (β). De esa forma, una vez que β fue seleccionada, Ta depende sólo de n. Desafortunadamen...
- Autores:
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Piña-Monarrez, Manuel Roman
Ramos-Lopez, Miriam Lorena
Alvarado-Iniesta, Alejandro
Molina-Arredondo, Rey David
- Tipo de recurso:
- Article of journal
- Fecha de publicación:
- 2016
- Institución:
- Universidad Nacional de Colombia
- Repositorio:
- Universidad Nacional de Colombia
- Idioma:
- spa
- OAI Identifier:
- oai:repositorio.unal.edu.co:unal/60519
- Acceso en línea:
- https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/60519
http://bdigital.unal.edu.co/58851/
- Palabra clave:
- 62 Ingeniería y operaciones afines / Engineering
Weibull demonstration test plan
Success run testing
Lipson equality
Accelerated life testing.
Planes de demostración Weibull
Rachas exitosas
Desigualdad de lipson
Pruebas de vida acelerada
- Rights
- openAccess
- License
- Atribución-NoComercial 4.0 Internacional
Summary: | La eficiencia de un plan de demostración Weibull está completamente determinada por el tiempo total de experimentación (Ta) el cual depende del tamaño de muestra desconocido (n) y del parámetro de forma Weibull (β). De esa forma, una vez que β fue seleccionada, Ta depende sólo de n. Desafortunadamente, debido a que n es estimada a través del método binomial paramétrico, entonces si el nivel de confianza C es mayor de 0.63, n y como consecuencia Ta, son sobre-estimados (para C0.63, estos son subestimados). Por otro lado, en este artículo, debido a que la intersección entre n y β, para la cual Ta es única, se encontró con n dependiendo sólo de R(t), entonces la estimación de Ta es óptima. Por otro lado, dado que una vez que β fue seleccionada, η está completamente determinada, entonces β y η fueron utilizadas para incorporar los tiempos de falla esperados del nivel operacional en un análisis de prueba de vida acelerada (ALT). Aplicaciones numéricas son dadas. |
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