Análisis computacional de películas de tialn en un sistema cristalino fcc.

Celdas del tipo cúbica centrada en las caras (FCC) para el compuesto TiAlN han sido simuladas por medio del software Gaussian98 y presentadas en GaussianView2.1. Para obtener el parámetro de red de la configuración, fue necesario utilizar el método Rietveld, a partir de los patrones de Difracción de Rayos X (XRD). Para un porcentaje total de aluminio en la celda cristalina de 11.11 %, de titanio de 37.04% y nitrógeno con un porcentaje de 51.85%, Los átomos de aluminio sustituyen a los de titanio en la celda, los cuales se ubican de manera aleatoria utilizando dos distribuciones diferentes. Se evaluó la distribución de carga, la densidad total de electrones y la densidad de electrones alfa y beta. La distribución de carga es coherente con la electronegatividad de los elementos presentes, la superficie de densidad total de electrones es continua a través de toda la celda, la densidad de electrones alfa y beta presenta puntos anómalos debido a la ubicación en las esquinas de la configuración de los ́atomos de aluminio y al efecto borde.

• Autores: Muñoz, A. M.; López, J. F.; Devia, D. M.; Benavides, V. J.; González, J. M.; Devia, A.
• Tipo de recurso: Article of journal
• Fecha de publicación: 2005
• Institución: Universidad Nacional de Colombia
• Repositorio: Universidad Nacional de Colombia
• Idioma: spa
• OAI Identifier: oai:repositorio.unal.edu.co:unal/73702
• Acceso en línea: https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/73702; http://bdigital.unal.edu.co/38178/
• Palabra clave: TiAlN; Gaussian 98; densidad total de electrones.; TiAlN; Gausssian 98; total electron density
• Rights: openAccess
• License: Atribución-NoComercial 4.0 Internacional