Estudio de las propiedades de transporte eléctrico de la cobaltita YBaCo4O7+d por medio de mediciones de termopotencia

El material YBaCo4O7+δ es uno de los materiales que ha despertado gran interés como termoelemento dada su estabilidad química y sus interesantes propiedades eléctricas y térmicas. En esta investigación se reporta el crecimiento de películas delgadas de YBaCo4O7+δ, por la técnica de pulverización catódica (Sputtering), bajo condiciones específica de presión, temperatura, tiempo y distancia fija blanco – sustrato. Las deposiciones fueron hechas sobre sustratos de SrTiO3, LaAlO3, MgO (100), c-Al2O3 (Zafiro C) a temperatura de 700ºC – 750ºC – 800ºC – 850ºC – 870ºC. La caracterización mediante Difracción de Rayos X (DRX) mostró un mejor crecimiento de las películas depositadas sobre MgO, SrTiO3, c-Al2O3, y la morfología fue analizada por microscopía electrónica de barrido. La medida de la resistividad vs temperatura, se realizaron por el método de las 4 puntas y los resultados se analizaron sobre el marco de los modelos de transporte estándar como activación térmica simple (Simple Thermal Activation), pequeño salto de polarón (small polaron hopping) y rango variable de salto de Mott’s (VRH), observando un mejor ajuste de los datos al modelo VRH. El poder Termoeléctrico se midió en función de la temperatura y las variaciones fueron interpretadas en términos de las fases identificadas, las concentraciones y los posibles mecanismos de conducción. El poder termoeléctrico del material se estima con respecto al del oro como material de referencia.

• Autores: Galeano Gaviria, Angélica
• Fecha de publicación: 2016
• Institución: Universidad Nacional de Colombia
• Repositorio: Universidad Nacional de Colombia
• Idioma: spa
• OAI Identifier: oai:repositorio.unal.edu.co:unal/59128
• Acceso en línea: https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/59128; http://bdigital.unal.edu.co/56382/
• Palabra clave: 53 Física / Physics; 62 Ingeniería y operaciones afines / Engineering; Compuesto YBaCo4O7+8; Difracción de Rayos X; Microscopía electrónica de barrido; Termopotencia; Propiedades eléctricas
• Rights: openAccess
• License: Atribución-NoComercial 4.0 Internacional