Desarrollo de un nuevo método para la caracterización del retardo efectivo de fase introducido por láminas delgadas de birrefringentes lineales

La luz polarizada es usada en diversas aplicaciones, industriales y en laboratorios. Debido aesto, para el desarrollo de futuras aplicaciones es muy útil la caracterización de las propiedadesópticas de los materiales, por ejemplo la birrefringencia, la cual está presente en estructuras aniso-trópica...

Full description

Autores:
Pabón Niño, Jhon Stivenson
Tipo de recurso:
Trabajo de grado de pregrado
Fecha de publicación:
2021
Institución:
Universidad Industrial de Santander
Repositorio:
Repositorio UIS
Idioma:
spa
OAI Identifier:
oai:noesis.uis.edu.co:20.500.14071/11000
Acceso en línea:
https://noesis.uis.edu.co/handle/20.500.14071/11000
https://noesis.uis.edu.co
Palabra clave:
Polarimetría
Celofán
Birrefringencia
Polarimetry
Cellophane
Birefringence
Rights
openAccess
License
Attribution-NonCommercial 4.0 International (CC BY-NC 4.0)
Description
Summary:La luz polarizada es usada en diversas aplicaciones, industriales y en laboratorios. Debido aesto, para el desarrollo de futuras aplicaciones es muy útil la caracterización de las propiedadesópticas de los materiales, por ejemplo la birrefringencia, la cual está presente en estructuras aniso-trópicas como cristales, polímeros y estructuras biológicas como colágeno y materiales a base decelulosa como el celofán, el cual ha sido descrito como un retardador de media onda. Sin embargo, se espera que el material sea no homogéneo, es decir, en cada sección del celofán presente unretardo de fase diferente dado por factores como espesor no homogéneo o porosidad, ya que nofue creado con fines ópticos. Por esto proponemos un método para caracterizar la birrefringenciade la muestra rotatoria basado en la ley de retardadores lineales, que caracteriza los estados de polarización emergentes de una birrefringente lineal cuando pasa un haz polarizado. Por tanto, el desfase del retardador se obtiene mediante la curva geométrica de la intersección de la esfera de Poincaré con un cono de ángulo δ, que representa el desfase, se identificó que el método funciona independiente al estado de entrada polarizado, y se clasificó un caso particular, cuando el cono estangente a la esfera y este permite medir el retardo de fase usando sólo la elipticidad del estado deentrada. Este método no requiere de elementos adicionales como placas retardadoras, compensa-dores o analizadores, lo que implica una reducción del error instrumental, ya que solo es necesarioconocer dos estados de polarización específicos que ofrecen practicidad y sencillez; el estado depolarización de entrada y un estado emergente, además permite identificar el eje rápido y el ejelento del birrefringente. Finalmente, el método se evaluó experimentalmente mediante la caracterización de la birrefringencia de tres muestras de celofán usando un estado de entrada linealmentepolarizado y se verificó la generalidad del método usando varios estados elípticos siendo uno deestos el caso partícular. Se logró medir la no-homogeneidad del material con el método generado de caracterización y se visualizó usando microscopía DIC, además se propuso una posible aplicación para la generación de haces vectoriales mediante el método de máscaras de celofán verificada mediante simulaciones utilizando la caracterización obtenida.